詢(xún)價(jià)
- 品牌：羅德與施瓦茨
- 全新：正品
- 質(zhì)保：一年
羅德 OSP 通常指的是羅德與施瓦茨（Rohde & Schwarz）公司推出的 OSP 開(kāi)放式開(kāi)關(guān)和控制平臺(tái)，以下是關(guān)于它的詳細(xì)介紹：
OSP 開(kāi)關(guān)和控制平臺(tái)產(chǎn)品特點(diǎn)
模塊化設(shè)計(jì)：提供多種模塊選擇，如帶有不同規(guī)格的繼電器模塊、半導(dǎo)體繼電器模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、多路復(fù)用器和數(shù)字輸入 / 輸出模塊等，用戶(hù)可根據(jù)實(shí)際需求靈活組合，以滿(mǎn)足各種射頻開(kāi)關(guān)和控制任務(wù)。
緊湊靈活：采用 19 英寸機(jī)箱，高度為 2HU 或 3HU，占用空間小，適合多種安裝環(huán)境，如桌面配置或機(jī)架集成式測(cè)試系統(tǒng)。精密的 CPU 控制功能為開(kāi)關(guān)和控制模塊的控制提供了極大的靈活性，可實(shí)現(xiàn)高性能外部接口。
操作簡(jiǎn)便：具備直觀(guān)的操作菜單，便于生成開(kāi)關(guān)配置。OSP230 型號(hào)配備手動(dòng)控制觸摸屏，OSP320 型號(hào)可配備顯示器選件，方便用戶(hù)進(jìn)行本地操作。同時(shí)，也支持遠(yuǎn)程控制，可通過(guò)以太網(wǎng)接口連接到 PC、集成到測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)，或者通過(guò)企業(yè)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行遠(yuǎn)程操作，還可通過(guò) LabVIEW、LabWindows/CVI 等多種應(yīng)用程序進(jìn)行控制。
功能強(qiáng)大：擁有強(qiáng)大的控制和射頻繼電器模塊，部分模塊最。高支持 67GHz 頻率，能夠滿(mǎn)足高速、高頻的射頻測(cè)試需求。此外，還具備觸發(fā)功能，可實(shí)現(xiàn)與其他測(cè)試設(shè)備的同步操作，提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
可擴(kuò)展性：基本單元的 CAN 總線(xiàn)端口最多可連接四個(gè) OSP150 擴(kuò)展單元，從而大大豐富了基本單元的功能，可根據(jù)未來(lái)新的需求進(jìn)行功能擴(kuò)展。
OSP 開(kāi)關(guān)和控制平臺(tái)產(chǎn)品型號(hào)
OSP220：緊湊型 2HU 型號(hào)，無(wú)手動(dòng)控制觸摸屏，適用于對(duì)成本敏感且空間有限的應(yīng)用場(chǎng)景，可通過(guò)以太網(wǎng)接口進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。
OSP230：同樣是緊湊型 2HU 型號(hào)，配備手動(dòng)控制觸摸屏，方便用戶(hù)進(jìn)行本地操作和快速設(shè)置，在一些需要現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試和操作的場(chǎng)景中較為實(shí)用。應(yīng)用領(lǐng)域
高速電纜測(cè)試：在高速以太網(wǎng)電纜的自動(dòng)化一致性測(cè)試中，與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（如 R&S?ZNB）和測(cè)試自動(dòng)化軟件套件（如 R&S?ZNrun）配合使用，可輕松、準(zhǔn)確、快速地測(cè)試電纜是否符合標(biāo)準(zhǔn)，自動(dòng)執(zhí)行所有必要的測(cè)量步驟，并生成綜合性測(cè)試報(bào)告OSP 開(kāi)關(guān)和控制平臺(tái)。
PCIe 測(cè)試：在開(kāi)發(fā)和 PCIe 一致性測(cè)試過(guò)程中，用于 PCIe 電纜和連接器的多端口開(kāi)關(guān)操作，結(jié)合網(wǎng)絡(luò)分析儀和相應(yīng)的測(cè)試選件，可測(cè)量所有必需的信號(hào)完整性參數(shù)，幫助縮短測(cè)試時(shí)間，提高測(cè)試的可靠性。
射頻測(cè)量與測(cè)試：在射頻測(cè)試領(lǐng)域，可用于搭建各種射頻測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)射頻信號(hào)的路由、切換和控制，支持對(duì)射頻設(shè)備的性能測(cè)試、校準(zhǔn)和驗(yàn)證，如信號(hào)源、OSP 開(kāi)關(guān)和控制平臺(tái)頻譜分析儀、功率計(jì)等設(shè)備的連接和切換控制。
電磁兼容性（EMC）測(cè)試：針對(duì) EMC 應(yīng)用，有特定的模塊可供選擇，可用于控制和切換 EMC 測(cè)試中的各種設(shè)備和信號(hào)路徑，確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性，幫助評(píng)估電子設(shè)備在電磁環(huán)境中的兼容性
