- 測試平臺:精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。
- 探測器:SDD探測器
- 工作原理:利用x射線對金屬表面進行激發(fā),檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
半導(dǎo)體鍍層測厚儀是一種專門為測量鍍層厚度而設(shè)計的新型儀器。它主要用于金屬鍍層厚度的測量、電鍍液及鍍層成分的分析,以及對黃金、鉑金、銀等貴金屬及各種飾品的含量檢測。
性能優(yōu)勢
1.半導(dǎo)體涂層測厚儀的精密三維移動平臺
2.樣品觀察系統(tǒng)
的圖像識別
4.輕松完成深槽樣品的檢測。
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,具有自動切換功能。
6.雙重保護機制,確保無縫防撞功能。
7.使用大幅面高分辨率探測器,以降低檢測限并提高測試精度。
自動智能控制方式,采用按鍵操作!
開機時自動進行自檢和復(fù)位。
半導(dǎo)體鍍層測厚儀在打開蓋子后,會自動將樣品臺退出,并抬升Z軸測試平臺,以便于放置樣品。
關(guān)上蓋子,推動樣品臺,降低Z軸測試平臺,并自動完成對焦。
直接點擊景點或局部景圖像以選擇測試點。
點擊軟件界面上的測試按鈕,系統(tǒng)會自動執(zhí)行測試并展示結(jié)果。
技術(shù)指標(biāo)
半導(dǎo)體鍍層測厚儀可分析的元素范圍包括:硫(S)至鈾(U)。
同時檢測超過24種元素,最多可進行5層涂層的鍍膜。
檢出限:可達到2ppm,最薄可測試0.005μm。
分析含量通常范圍在2ppm到99.9%之間。
鍍層厚度一般在50微米以內(nèi)(具體取決于材料種類)。
重復(fù)性:可達到0.1%
穩(wěn)定性:可達到0.1%
SDD探測器:分辨率可達到135電子伏特。
微孔準(zhǔn)直技術(shù):孔徑可小至0.1mm,光斑直徑也可達到0.1mm。
樣品觀察:配備了景觀和局部兩種工業(yè)高清攝像頭。
準(zhǔn)直器組合包括四種規(guī)格:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm和Ф0.3mm。
儀器尺寸為:690毫米(寬)x 575毫米(深)x 660毫米(高)。
樣品室的尺寸為520毫米(寬)x 395毫米(深)x 150毫米(高)。
樣品臺的尺寸為:393毫米(寬)x 258毫米(深)
X/Y/Z平臺的移動速度:標(biāo)準(zhǔn)速度為200mm/s,速度可達333.3mm/s。
X/Y/Z平臺的重復(fù)定位精度為小于0.1微米。
操作環(huán)境濕度:不超過90%
操作環(huán)境溫度范圍為:15℃至30℃。
性能優(yōu)勢
1、半導(dǎo)體鍍層測厚儀具有超高的分辨率、便捷的操作方式、快速的檢測速度以及人性化的用戶界面。
2、操作簡單,通過鍵盤操作即可獲取鍍層厚度的檢測結(jié)果。
3、用戶可以通過CCD和艙內(nèi)照明系統(tǒng)清晰地看到樣件的測試位置,從而增強了測試的信心。
4、Thick系列分析儀的測試數(shù)據(jù)可以直接上傳至網(wǎng)絡(luò),檢測結(jié)果便于查看和分享。
5、配備有X射線防護鎖,只有在封閉狀態(tài)下才能發(fā)射X射線,確保使用安全。
6、滿足不同厚度和不規(guī)則表面樣品的測試需求。
7、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器能夠滿足微小測試點的要求。
技術(shù)參數(shù)
1、儀器的外形尺寸為:寬576毫米,深495毫米,高545毫米。
2、儀器樣品室的尺寸為:寬500毫米,深350毫米,高140毫米。
3、測試層數(shù)設(shè)置為5層。
4、元素分析的范圍包括硫(S)到鈾(U)。
5、分析含量范圍為ppm至99.9%。
6、鍍層的厚度通常在50微米以內(nèi)(不同材料可能有所差異)。
7、工作環(huán)境溫度范圍:15℃至30℃
技術(shù)援助與售后服務(wù)
1、為客戶提供為期三天的免費操作培訓(xùn)。
2、整機享有一年保修,聯(lián)網(wǎng)后可獲得售后服務(wù),并提供終身技術(shù)支持。
3、在保修期內(nèi),如果儀器因非人為因素出現(xiàn)損壞,將提供免費維修服務(wù)。
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè),注冊資本為23088萬元。該公司旗下設(shè)有北京邦鑫偉業(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司和深圳市天瑞儀器有限公司兩家全資子公司。