- 測(cè)試平臺(tái):精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測(cè)器:Si-Pin探測(cè)器
- 工作原理:利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā),檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
國(guó)內(nèi)X熒光測(cè)厚儀
國(guó)內(nèi)X熒光測(cè)厚儀采用開(kāi)放式設(shè)備,精密二維移動(dòng)樣品臺(tái),激光自動(dòng)進(jìn)行定位,對(duì)小樣品測(cè)試效果好,鉛玻璃保護(hù)屏蔽罩可以防止輻射泄漏。
的詳細(xì)信息
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息。通過(guò)的x射線熒光信號(hào)的分析,可以測(cè)表面電鍍的金屬層的光譜強(qiáng)度,從而得出鍍層的厚度。
國(guó)內(nèi)X熒光測(cè)厚儀系列在電鍍檢測(cè)行業(yè)中, 針對(duì)上述五項(xiàng)需求的應(yīng)用:
(1)、對(duì)鍍層膜厚檢測(cè)、電鍍液分析可精準(zhǔn)分析;
(2)、對(duì)RoHS有害元素檢測(cè)、重金屬檢測(cè)、槽液雜質(zhì)檢測(cè)、水質(zhì)在線監(jiān)測(cè)可進(jìn)行快速檢測(cè),檢測(cè)環(huán)境里的重金屬是否超標(biāo)。
國(guó)內(nèi)X熒光測(cè)厚儀具有以下特點(diǎn)
快速:1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度,并達(dá)到測(cè)量精度要求。
方便:X熒光光譜儀部分機(jī)型采用電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器,能量分辨率更優(yōu)于135eV,測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補(bǔ)充液氮,操作使用更加方便,并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無(wú)損:測(cè)試前后,樣品無(wú)任何形式的變化。
直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示元素含量。
國(guó)內(nèi)X熒光測(cè)厚儀測(cè)試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。
可靠性高:由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測(cè)量的可靠性更高。
滿足不同需求:測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強(qiáng)大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種先進(jìn)的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
性價(jià)比高:相比化學(xué)分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
國(guó)內(nèi)X熒光測(cè)厚儀簡(jiǎn)易:對(duì)人員技術(shù)要求較低,操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。
1、儀器尺寸:
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm ,
特殊測(cè)試時(shí),可開(kāi)蓋,對(duì)樣品長(zhǎng)度無(wú)限制
檢測(cè)開(kāi)槽口時(shí),厚度10mm以上,寬度和深度沒(méi)有限制。
樣品臺(tái)尺寸:230(W)×210(D)mm
移動(dòng)范圍:50(X)mm, 50(Y)mm
Z軸升降平臺(tái)升降范圍:0-140mm