- 企業(yè)類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺:精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實(shí)現(xiàn)三維移動。
- 探測器:SDD探測器
- 工作原理:利用x射線對金屬表面進(jìn)行激發(fā),檢測熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
x熒光鍍層測厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等;精密測量金屬電鍍層的厚度;主要應(yīng)用在:電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶飾、汽車配件、電阻電容、螺栓、螺母、彈簧類緊固件、PCB、FPC、LED、SMD、高壓開關(guān)、天線、五金衛(wèi)浴、汽車零部件、功能性電鍍件、裝飾品等,以及檢測機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等。
產(chǎn)品優(yōu)勢
x熒光鍍層測厚儀采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高辨率探頭使分析結(jié)果更加
x熒光鍍層測厚儀良好的射線屏蔽作用
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動平臺可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
產(chǎn)品優(yōu)勢
x熒光鍍層測厚儀精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實(shí)現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
型號:XRF鍍層測厚儀Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg 標(biāo)準(zhǔn)配置 開放式樣品腔。
滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.精密度定義為同樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說,精密度就是重現(xiàn)性(Reproducibility或Repeatability)。X熒光分析 的精度是和測量的時(shí)間有關(guān)的,測量的時(shí)間越長,則精度越高。 2.重復(fù)性定義為儀器測同款樣品的連續(xù)測試十次或二十次的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.度定義為各次測定值mi對于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,度也定差。反之,度很差,精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想性(Reliability)好,精密度和度都要求高。
4. 誤差X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的,所以,通常情況下,把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測量的誤差。