詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
技術指標
X熒光測厚儀型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
多元素復合鍍層測試儀 相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
X熒光測厚儀特點
1.上照式
2.儀高分辨率探測器
3.鼠標定位測試點
4.測試組件可升降
5.可視化操作
6良好的射線屛蔽
7.高格度移動平臺
8.自動定位高度
9.超大樣品腔
10 .小孔準直器
11.自動尋找光斑
12.測試防護
X熒光測厚儀
標準配置
鍍層分析光譜儀開放式樣品腔。
二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
X熒光測厚儀
應用優(yōu)勢
鍍層分析光譜儀針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
內置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；
高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
X熒光測厚儀
公司被授予 “火炬計劃”，“江蘇省”，“江蘇省軟件企業(yè)”，“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”，“江蘇省規(guī)劃布局內軟件企業(yè)”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術研究中心”等榮譽稱號。X熒光光譜儀系列產品被認定為“新產品”和“江蘇省高新技術產品”。產品品種齊全，為環(huán)境保護與、工業(yè)測試與分析及其它領域提供解決方案。 江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家研發(fā)、生產X熒光鍍層測厚儀,直讀光譜儀，手持式光譜儀，手持式合金分析儀，氣相質譜儀,液相質譜儀，ROHS測試儀，電感耦合等離子發(fā)射光譜儀，等離子體質譜儀,手持式不銹鋼材質檢測光譜儀,鍍層膜厚測試儀，X熒光測厚儀的廠家，分析儀器上市公司，公司坐落于江蘇省蘇州市昆山市，歡迎廣大客戶前來參觀考察。
