詢價(jià)
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：美國(guó)
- 美國(guó)：是德科技Keysight
- 全新：正品
- 質(zhì)保：一年
射頻頻譜分析儀是一種用于射頻微波設(shè)計(jì)和測(cè)試的儀器，能夠幫助電子工程師完成頻譜觀測(cè)、功率測(cè)量以及復(fù)雜信號(hào)解調(diào)分析等工作。以下是關(guān)于它的詳細(xì)介紹：
射頻頻譜分析儀工作原理
信號(hào)輸入與預(yù)處理：輸入信號(hào)首先經(jīng)過前置放大器，將微弱信號(hào)放大，以提高信噪比，減少測(cè)量誤差。接著，預(yù)選濾波器濾除不需要的頻率成分，阻止雜散干擾，使儀器專注于測(cè)量目標(biāo)信號(hào)的頻譜。
頻率轉(zhuǎn)換：利用超外差接收機(jī)技術(shù)，輸入信號(hào)與本振信號(hào)（LO）進(jìn)行混頻，產(chǎn)生和頻與差頻信號(hào)，保留差頻信號(hào)進(jìn)入后續(xù)分析階段，濾除和頻信號(hào)。通過調(diào)整本振頻率，可使頻譜分析儀在不同頻率段進(jìn)行測(cè)量。
中頻處理：中頻信號(hào)經(jīng)過濾波器和放大器處理，濾波器將目標(biāo)信號(hào)頻率范圍內(nèi)的信號(hào)通過，抑制其他不相關(guān)頻率成分，放大器則增加信號(hào)幅度，使其更易于分析。
數(shù)字化與傅里葉變換：信號(hào)經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）進(jìn)行采樣和量化，轉(zhuǎn)換成離散數(shù)字信號(hào)，再通過快速傅里葉變換（FFT）將信號(hào)從時(shí)域轉(zhuǎn)換到頻域，提取出信號(hào)的頻率成分及其幅度信息。
射頻頻譜分析儀主要類型
掃頻式頻譜儀：通過多次取樣過程來完成重復(fù)信息分析，將接收器掃描到一個(gè)頻帶上并注意輸出，可用于從聲頻直到亞毫米波段的某一段連續(xù)射頻信號(hào)和周期信號(hào)的分析。
矢量信號(hào)分析儀：不僅能測(cè)量信號(hào)的幅度和頻率，還能測(cè)量信號(hào)的相位信息，可用于分析復(fù)雜的調(diào)制信號(hào)，如數(shù)字通信中的 QAM、PSK 等信號(hào)。
實(shí)時(shí)頻譜分析儀：在信號(hào)處理過程中能夠完全利用所采集的時(shí)域采樣點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)無縫的頻譜測(cè)量及觸發(fā)，適合非重復(fù)性、持續(xù)期很短的信號(hào)分析
射頻頻譜分析儀關(guān)鍵指標(biāo)
頻率：指頻譜儀能檢測(cè)的最，高頻率值，一般無線通信要求的頻率上限在十幾個(gè) GHz，軍用、航天類型的應(yīng)用要求在 50GHz 以上，甚至達(dá)到 100GHz 以上。
分析帶寬：是頻譜儀能夠同時(shí)分析的最，大信號(hào)頻率范圍，一般取決于其中頻 ADC 的帶寬，隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在頻譜儀的分析帶寬已經(jīng)從最初的幾十 MHz 增加到一百 MHz 以上。
無雜散動(dòng)態(tài)范圍（SFDR）：用于衡量頻譜儀同時(shí)觀察大小信號(hào)的能力，該參數(shù)一般取決于頻譜儀的底噪、ADC 位數(shù)等。
100% 截獲信號(hào)持續(xù)時(shí)間：實(shí)時(shí)頻譜儀對(duì)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間有特定要求，高于一定持續(xù)時(shí)間的信號(hào)能夠被 100% 地準(zhǔn)確測(cè)量到，低于該時(shí)間的信號(hào)可能會(huì)被捕獲，但幅度精度不能保證。
FFT 計(jì)算速度：即頻譜儀里面的 FPGA 硬件進(jìn)行 FFT 計(jì)算的速度。
應(yīng)用領(lǐng)域
通信領(lǐng)域：用于監(jiān)測(cè)無線通信信號(hào)的頻譜占用情況、信號(hào)強(qiáng)度、調(diào)制方式等，幫助優(yōu)化通信網(wǎng)絡(luò)的規(guī)劃和布局，確保信號(hào)傳輸?shù)馁|(zhì)量和穩(wěn)定性，還可用于檢測(cè)通信設(shè)備的發(fā)射信號(hào)是否符合標(biāo)準(zhǔn)，排查干擾源。
雷達(dá)系統(tǒng)：可分析雷達(dá)發(fā)射信號(hào)的頻譜特性，評(píng)估雷達(dá)的性能，如距離分辨率、速度分辨率等，同時(shí)也能用于檢測(cè)雷達(dá)回波信號(hào)，識(shí)別目標(biāo)物體的特征和位置。
電磁兼容（EMC）測(cè)試：用于測(cè)量電子設(shè)備在工作過程中產(chǎn)生的電磁干擾（EMI），以及設(shè)備對(duì)外部電磁干擾的抗擾度（EMS），確保設(shè)備在復(fù)雜的電磁環(huán)境中能夠正常工作，不會(huì)對(duì)其他設(shè)備產(chǎn)生干擾。
電子戰(zhàn)：可用于截獲和分析敵方的射頻信號(hào)，獲取敵方通信、雷達(dá)等系統(tǒng)的參數(shù)和工作模式，為電子對(duì)抗提供情報(bào)支持，同時(shí)也能用于保護(hù)己方的電子設(shè)備免受敵方干擾和攻擊
