詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
國產x熒光膜厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等；精密測量金屬電鍍層的厚度；主要應用在：電路板、端子連接器、LED、半導體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶飾、汽車配件、電阻電容、螺栓、螺母、彈簧類緊固件、PCB、FPC、LED、SMD、高壓開關、天線、五金衛(wèi)浴、汽車零部件、功能性電鍍件、裝飾品等，以及檢測機構以及研究所和高等院校等。
國產x熒光膜厚儀滿足標準 1.精密度定義為同樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度就是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關的，測量的時間越長，則精度越高。 2.重復性定義為儀器測同款樣品的連續(xù)測試十次或二十次的相對標準偏差。 3.準確度定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準確度也定差。反之，準確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準確度都要求高。 4. 誤差X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計漲落引起的誤差作為測量的誤差。 5.檢出限（Limit of detection）當獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，就稱為檢出限（或叫低檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出，般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。 6.計數(shù)統(tǒng)計誤差在放射性物質的測量中，設儀器穩(wěn)定性、機械在現(xiàn)性可確保，由儀器機械產生的誤差可以忽略不計，但計數(shù)統(tǒng)計誤差還是不能。國產x熒光膜厚儀X射線強度是把入射到計數(shù)器上的光子變成脈沖后計數(shù)而得到的。因而計數(shù)值在本質上具有統(tǒng)計誤差。 被測X射線的計數(shù)值（N）的分布屬于隨機事件，其標準偏差由 N求出。 N就叫統(tǒng)計誤差。時間越長，則相對偏差就越小，即精度就越高。
國產x熒光膜厚儀主要優(yōu)點 1、快速：般測量個樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進行簡單處理。 2、無損：物理測量，不改變樣品性質 3、準確：對樣品可以分析 4、直觀：直觀的分析譜圖，元素分布幕了然，定性分析速度快 5、環(huán)保：檢測過程中不產生任何廢氣、廢水
