- 企業(yè)類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 探測器:SDD
- 電壓:220V
- 輔助設(shè)備:電腦
- 工作最佳環(huán)境溫度:15-30℃
- 元素范圍:S-U
- 準(zhǔn)直器:0.1*0.3mm
棒材鍍鎳膜厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10-40秒內(nèi)完成。 隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微機技術(shù)后,采用棒材鍍鎳膜厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
棒材鍍鎳膜厚儀是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從S到U。 可靠性高:由于測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測量的可靠性更高。 滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強大,軟件可儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種的分析方法,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
棒材鍍鎳膜厚儀鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。 鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。