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介電常數(shù)及介質損耗測試儀 型號: AS2855-A庫號：M408237
AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)介質損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用QBG-3E數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）。
AS2855介電常數(shù)/介質損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成
功能名稱： QBG-3E
信號源范圍DDS數(shù)字合成信號 10KHZ-70MHz
信號源頻率覆蓋比 7000:1
信號源頻率精度 6位數(shù) 3×10-5 ±1個
Q測量范圍 1-1000自動/手動量程
Q分辨率 4位數(shù),分辨率0.1
Q測量工作 <5%
電感測量范圍 4位數(shù),分辨率0.1nH 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH
電感測量 <5%
調諧電容 主電容30-550pF
電容直接測量范圍 1pF～2.5uF
調諧電容
分辨率 ±1 pF或<1% 0.1pF
諧振點搜索 自動掃描
Q合格預置范圍 5-1000聲光提示
Q量程切換 自動/手動
LCD顯示參數(shù) F，L，C，Q，Lt，Ct，tn等
自身殘余電感和測試引線電感的
自動扣除功能() 有
大電容值直接測量顯示功能() 測量值可達2.5uF
介質損耗系數(shù) 精度 萬分之五
介電常數(shù) 精度 千分之一
材料測試厚度 0.1mm-10mm
USB接口 支持
2.S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
固體：材料測量直徑Φ38mm 可選；厚度可調小于14mm
液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）
3.LKI-1電感組
電感No 電感量 準度% Q值≥ 分布電容約略值 諧振頻率范圍 MHz 適合介電常數(shù)測試頻率
AS2855-A
1 0.1μH ±0.05μH 200 5pF 20~70 50MHz
2 0.5μH ±0.05μH 200 5pF 10~37 15MHz
3 2.5μH ±5% 200 5pF 4.6~17.4 10MHz
4 10μH ±5% 200 6pF 2.3~8.6 5MHz
5 50μH ±5% 200 6pF 1~3.75 1.5MHz
6 115μH ±5% 200 6pF 0.75~2.64 1MHz
7 1mH ±5% 150 8pF 0.23~0.84 0.5MHz
8 5mH ±5% 130 8pF 0.1~0.33 0.25MHz
介電常數(shù)及介質損耗測試儀介電常數(shù)及介質損耗測試儀介電常數(shù)及介質損耗測試儀介電常數(shù)及介質損耗測試儀
9 14mH ±5% 90 8pF 0.072~0.26 0.1MHz
