詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家研發(fā)、生產X熒光鍍層測厚儀,直讀光譜儀，手持式光譜儀，手持式合金分析儀，氣相質譜儀,液相質譜儀，ROHS測試儀，電感耦合等離子發(fā)射光譜儀，等離子體質譜儀,手持式不銹鋼材質檢測光譜儀,鍍層膜厚測試儀，X熒光測厚儀的廠家，分析儀器上市公司，公司坐落于江蘇省蘇州市昆山市，歡迎廣大客戶前來參觀考察。
Thick800A膜厚儀鍍層樣品測試注意事項
先要確認基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序，天瑞XRF熒光測厚儀多可以測5層金屬鍍層厚度 。
Thick800A膜厚儀通過對鍍層基材的測定，確定基材中是否含有對鍍層元素特征譜線有影響的物質，比如PCB印刷版基材中環(huán)氧樹脂中的Br 。
對于底材成分不是純元素的，并且同標準片底材元素含量不一致的，則需要進行基材修正，選用樣品所相似的底材進行曲線標定 。
Thick800A膜厚儀：Thick800A
測定步驟：
步：新建SnPb-Cu鍍層厚度標準曲線
第二步：確定測試時間：40S
第三步：測試其重復性得出相對標準偏差
應用優(yōu)勢
Thick800A膜厚儀針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
內置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；
高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
標準配置
X射線電鍍層測厚儀開放式樣品腔。
二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
公司被授予 “火炬計劃”，“江蘇省”，“江蘇省軟件企業(yè)”，“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”，“江蘇省規(guī)劃布局內軟件企業(yè)”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術研究中心”等榮譽稱號。X熒光光譜儀系列產品被認定為“新產品”和“江蘇省高新技術產品”。產品品種齊全，為環(huán)境保護與、工業(yè)測試與分析及其它領域提供解決方案。
