詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
在測量和檢測工業(yè)產(chǎn)品的過程中，鍍金層厚度是一個很重要的參數(shù)。為了能夠準(zhǔn)確測量鍍金層的厚度，并確保產(chǎn)品質(zhì)量，科學(xué)家們研發(fā)了一種高精度的鍍金層厚度測量儀。這款測量儀器結(jié)合了先進的光學(xué)技術(shù)和智能算法，可以非常準(zhǔn)確地測量出鍍金層的厚度。
在使用鍍金層厚度測量儀之前，首先需要將待測樣品放置在測量儀的臺面上。測量儀通過對樣品進行全方位的掃描，可以獲取到樣品表面鍍金層的厚度信息。同時，測量儀還可以實時顯示測量結(jié)果，并將數(shù)據(jù)保存在設(shè)備內(nèi)部或通過連接電腦進行存儲和分析。
應(yīng)用優(yōu)勢
電鍍膜厚測試儀針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導(dǎo)體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；
高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
技術(shù)指標(biāo)
鍍金層厚度測量儀型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
應(yīng)用領(lǐng)域
對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進行檢測。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
鍍層儀器：Thick800A
測定步驟：
步：新建SnPb-Cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線
第二步：確定測試時間：40S
第三步：測試其重復(fù)性得出相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
工作原理是基于光學(xué)干涉原理。當(dāng)光線照射到厚度不均勻的薄膜上時，會產(chǎn)生反射和透射兩束光線。這兩束光線在薄膜內(nèi)部發(fā)生干涉，干涉程度與薄膜的厚度有關(guān)。測量儀器通過光學(xué)傳感器接收反射光的干涉信號，并通過算法處理，得出鍍金層的厚度。
鍍金層厚度測量儀具有高精度、即時測量、非破壞性等特點。通過使用這款儀器，不僅可以提高測量的準(zhǔn)確性，還可以節(jié)省測量時間和成本。同時，測量儀器還可以應(yīng)用于不同材料和形狀的樣品測量，具有很高的通用性和適用性。
在許多行業(yè)中都有廣泛的應(yīng)用。例如，電子行業(yè)中的電子器件制造過程中，鍍金層的厚度是影響產(chǎn)品質(zhì)量的重要因素。使用該測量儀器可以及時發(fā)現(xiàn)和調(diào)整鍍金層的厚度，確保產(chǎn)品的正常運行和性能穩(wěn)定。在汽車行業(yè)中，鍍金層厚度測量儀也被廣泛應(yīng)用于汽車外部裝飾件的制造過程中，以確保產(chǎn)品質(zhì)量和外觀效果。
