- 企業(yè)類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺:精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。
- 探測器:Si-Pin探測器
- 工作原理:利用x射線對金屬表面進(jìn)行激發(fā),檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
熒光光譜鍍層測厚儀:如何精準(zhǔn)測量鍍層厚度?
熒光光譜鍍層測厚儀是一種先進(jìn)的儀器設(shè)備,廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。它不僅可以測量鍍層的厚度,還可以提供精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)和分析結(jié)果。本文將詳細(xì)介紹熒光光譜鍍層測厚儀的原理、應(yīng)用、操作方法等方面的內(nèi)容,幫助讀者更好地了解和使用這一儀器。
首先,我們來介紹一下熒光光譜鍍層測厚儀的原理。該儀器通過照射被測試物體,在熒光激發(fā)下產(chǎn)生的光譜進(jìn)行分析,從而得出鍍層的厚度。其原理基于光的吸收、發(fā)射和散射特性,通過分析不同波長的熒光光譜,可以準(zhǔn)確測量鍍層的厚度。
熒光光譜鍍層測厚儀具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。在工業(yè)生產(chǎn)中,可以用于測量金屬鍍層、陶瓷涂料、油漆涂層等各種材料的厚度。在電子行業(yè)中,可以用于測量集成電路封裝、半導(dǎo)體材料、光學(xué)薄膜等領(lǐng)域的薄膜厚度。在科學(xué)研究中,可以用于對材料的物理性質(zhì)進(jìn)行研究和分析。
應(yīng)用優(yōu)勢
電鍍膜厚測試儀針對不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點分析;
軟件可分析5層25種元素鍍層;
通過軟件操作樣品移動平臺,實現(xiàn)不同測試點的測試需求;
配置高分辨率Si-PIN半導(dǎo)體探測器,實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析;
內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶觀測樣品狀態(tài);
高度激光敏感性傳感器保護(hù)測試窗口不被樣品撞擊。
技術(shù)指標(biāo)
X熒光膜厚儀型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
應(yīng)用領(lǐng)域
對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。鍍層儀器:Thick800A
測定步驟:
步:新建SnPb-Cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線
第二步:確定測試時間:40S
第三步:測試其重復(fù)性得出相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
非常簡單。首先,將待測樣品放置在儀器的測試臺上,并確保其表面平整。然后,通過設(shè)置儀器的參數(shù),選擇合適的測試模式和波長范圍。在開始測試之前,應(yīng)先進(jìn)行儀器的校準(zhǔn),以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。接下來,啟動儀器進(jìn)行測試,等待測試結(jié)果的出現(xiàn)。最后,根據(jù)測試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和處理。
具有許多優(yōu)點。首先,它能夠測量各種類型的涂層和薄膜,具有很高的通用性。其次,儀器的測試速度快、精度高,可以大大提高工作效率。此外,該儀器還具有體積小、操作簡單、易于維護(hù)等特點。
是一種非常重要的儀器設(shè)備,可以廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。通過測量鍍層的厚度,可以更好地掌握材料的性能和質(zhì)量,提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。相信隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,熒光光譜鍍層測厚儀將發(fā)揮越來越重要的作用。