- 企業(yè)類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測量元素范圍:鈉(Na)到鈾(U)
- 元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
- 同時分析元素:一次性可測幾十種元素
- 測量時間:60秒-200秒
- 能量分辨率為:145±5eV
- 管壓:5KV-50KV
- 管流:50uA-1000uA
- 外形尺寸:660mm×510mm×350mm
XRF設(shè)備根據(jù)有手持和臺式兩種,所采用的都是X熒光光譜儀的原理。X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成,根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息。X熒光光譜XRF設(shè)備優(yōu)點(diǎn):
1、分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘可以測完樣品中的全部待測元素;
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在*軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)*為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定;
3、非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,結(jié)果重現(xiàn)性好;
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析;
5、分析精密度高;
6、制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
XRF設(shè)備優(yōu)勢:
1、制樣簡單:通常情況下是物理制樣。試樣經(jīng)過簡單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成;
2、分析范圍廣:理論上從元素Be到92號元素鈾均可進(jìn)行分析;
3、測量范圍寬:從0.001%到均可進(jìn)行分析。
XRF設(shè)備使用注意事項(xiàng):
1、 為了保持儀器的良好外觀,需經(jīng)常對儀器表面做清潔工作,用軟布擦拭灰塵;
2、 向樣品腔內(nèi)放樣品時,一定要注意清潔,不可使樣品塵粒掉入其中,否則會污染X光管和探測器窗口,造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞;
3、 樣品蓋需要用酒精棉球做好清潔工作;
4、為使儀器能長期工作正常,需定期對各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測試,并進(jìn)行調(diào)整;
5、 儀器只允許經(jīng)培訓(xùn)的人員才能操作,其他人員一律不能操作;
6、 使用、保存和搬動中,要特別小心,以免磕碰、損傷外表、損壞內(nèi)部線路。
XRF設(shè)備根據(jù)有手持和臺式兩種,所采用的都是X熒光光譜儀的原理。X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成,根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息,X熒光光譜儀隨著分光、探測系統(tǒng)及X光管等的不斷改善和電子計(jì)算機(jī)的應(yīng)用,而得到迅速的推廣和發(fā)展??梢灶A(yù)料,對新技術(shù)、新方法的探索,還會不斷促進(jìn)XRF熒光光譜儀器的*新發(fā)展。
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