詢價(jià)
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高低頻介電常數(shù)測(cè)量?jī)x （20HZ-2MHZ） 型號(hào):GCSTD-D庫(kù)號(hào)：D409166
（適用于粉體、固體、液體、膏體測(cè)試）
一、滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GBT 1409-2006 測(cè)量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的
推薦方法
GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法
ASTM D150/IEC 60250 固體電緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法
二、技術(shù)要求：
接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
電極類型：固定電極-測(cè)量電極φ38mm
測(cè)試頻率：20HZ-2MHZ
測(cè)試電極：黃銅電極
測(cè)試環(huán)境：室溫
三、軟件功能：
* 1、測(cè)試頻率可以掃描進(jìn)行測(cè)試
*2、測(cè)試頻率可以單點(diǎn)測(cè)試
*3、測(cè)試頻率可以多頻設(shè)置測(cè)試
4、測(cè)試速度模式：快速、中速、慢速
5、測(cè)試數(shù)據(jù)與曲線顯示：
*6、電阻率—測(cè)試頻率
*7、對(duì)介電常數(shù)--測(cè)試頻率
*8、相對(duì)介電常數(shù)--測(cè)試頻率
*9、相對(duì)介電常數(shù)虛部--測(cè)試頻率
*10、相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部--測(cè)試頻率
*11、介質(zhì)損耗--測(cè)試頻率
*12、電容值--測(cè)試頻率
測(cè)試參數(shù) C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測(cè)試頻率 20 Hz～2MHz,10mHz 步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準(zhǔn)度 0.1%
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C 0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
顯圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D 0.0001 ～ 9.9999
Q 0.0001 ～ 99999
θ -179.99°～ 179.99°
測(cè)量速度 快速: 200 次/s（f﹥30kHz） ,100 次/s（f﹥1kHz）
中速: 25 次/s, 慢速: 5 次/s
功能 開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)
等效方式 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式 自動(dòng), 保持
顯示方式 直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式 內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線
內(nèi)部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV 步進(jìn)
置源 電流模式（內(nèi)阻為 50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA 步進(jìn)
比較器功能 10 檔分選及計(jì)數(shù)功能
顯示器 320×240 點(diǎn)陣圖形 LCD 顯示
存儲(chǔ)器 可保存 20 組儀器設(shè)定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
高低頻介電常數(shù)測(cè)量?jī)x高低頻介電常數(shù)測(cè)量?jī)x高低頻介電常數(shù)測(cè)量?jī)x高低頻介電常數(shù)測(cè)量?jī)x
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 LAN(LXI class C support)
