詢(xún)價(jià)
- 企業(yè)類(lèi)型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號(hào)
- 測(cè)試平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測(cè)器：Si-Pin探測(cè)器
- 工作原理：利用x射線(xiàn)對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
鍍層X(jué)射線(xiàn)測(cè)厚儀：革新監(jiān)測(cè)技術(shù)，保障工業(yè)安全！鍍層X(jué)射線(xiàn)測(cè)厚儀是一種先進(jìn)的工業(yè)監(jiān)測(cè)儀器，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域的金屬表面涂層厚度測(cè)量。它以其快速的測(cè)量結(jié)果，成為工業(yè)生產(chǎn)中不可或缺的重要工具。本文將全面介紹鍍層X(jué)射線(xiàn)測(cè)厚儀的原理、使用方法和應(yīng)用領(lǐng)域，為您揭開(kāi)這一科技背后的奧秘。鍍層X(jué)射線(xiàn)測(cè)厚儀的原理基于X射線(xiàn)的穿透性質(zhì)，通過(guò)測(cè)量X射線(xiàn)在金屬表面涂層中的散射和吸收情況，進(jìn)而計(jì)算出涂層的厚度。它采用非破壞性的測(cè)量方式，不需要取樣，既保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，又節(jié)省了時(shí)間和成本。
技術(shù)指標(biāo)
鍍層x射線(xiàn)測(cè)厚儀型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線(xiàn)性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
鍍層樣品測(cè)試注意事項(xiàng)
先要確認(rèn)基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序，天瑞XRF熒光測(cè)厚儀多可以測(cè)5層金屬鍍層厚度 。
通過(guò)對(duì)鍍層基材的測(cè)定，確定基材中是否含有對(duì)鍍層元素特征譜線(xiàn)有影響的物質(zhì)，比如PCB印刷版基材中環(huán)氧樹(shù)脂中的Br 。
對(duì)于底材成分不是純?cè)氐模⑶彝瑯?biāo)準(zhǔn)片底材元素含量不一致的，則需要進(jìn)行基材修正，選用樣品所相似的底材進(jìn)行曲線(xiàn)標(biāo)定 。
首先需要將待測(cè)涂層表面清潔干凈，以確保測(cè)量結(jié)果的。然后將測(cè)量?jī)x器對(duì)準(zhǔn)待測(cè)區(qū)域，觸發(fā)掃描，儀器會(huì)自動(dòng)發(fā)送X射線(xiàn)，并通過(guò)探測(cè)器接收反射的射線(xiàn)。根據(jù)接收到的射線(xiàn)強(qiáng)度和散射情況，儀器會(huì)自動(dòng)計(jì)算出涂層的厚度，并顯示在屏幕上。鍍層X(jué)射線(xiàn)測(cè)厚儀在工業(yè)生產(chǎn)中有著廣泛的應(yīng)用。首先，它可以用于測(cè)量汽車(chē)零部件和飛機(jī)結(jié)構(gòu)中的涂層厚度，以確保其滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求，并提高產(chǎn)品的使用壽命和安全性。其次，它也可以應(yīng)用于金屬制品的生產(chǎn)過(guò)程中，用來(lái)監(jiān)測(cè)涂層的均勻性和厚度，保證產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定。此外，還可以用于船舶、建筑、電子等行業(yè)，為工程檢測(cè)和質(zhì)量控制提供了可靠的手段。在選擇鍍層需要考慮儀器的性能和功能。首先，測(cè)量范圍要滿(mǎn)足項(xiàng)目的需求，能夠涵蓋涂層厚度的各個(gè)范圍。
