TFRT-300型薄膜變溫電阻測(cè)試儀
關(guān)鍵詞：薄膜電阻，磁阻，鐵磁/非鐵磁/鐵磁薄膜電阻
TFRT-300型薄膜變溫電阻測(cè)試儀是一款多用途的電阻測(cè)試儀，即可應(yīng)用于金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測(cè)量，也可以應(yīng)用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測(cè)量，是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀器，對(duì)于先進(jìn)材料應(yīng)用和開(kāi)發(fā)有著重要意義。
一、特點(diǎn):
1.采用專用高精度電阻測(cè)試儀和溫度測(cè)試儀以及四端測(cè)量法減小接觸電阻對(duì)測(cè)量的影響，測(cè)量材料電阻R隨溫度T的變化；
2.采用Helmholtz線圈提供均勻的磁場(chǎng)，用它可以產(chǎn)生極微弱的磁場(chǎng)直至數(shù)百Gs的磁場(chǎng)。用四端法測(cè)量樣品電阻隨溫度的變化，可減小接觸電阻對(duì)測(cè)量的影響，提高測(cè)量精度；
3.采用氮?dú)獗Ｗo(hù)，可連續(xù)測(cè)量樣品在150K~600K范圍內(nèi)電阻隨溫度的變化，可拓展到1800℃；
4.采用流行的USB2.0接口與計(jì)算機(jī)相連，數(shù)據(jù)采集迅速準(zhǔn)確；
5.用戶界面直觀友好，方便用戶使用。
二、應(yīng)用:
1.金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測(cè)量
2.金屬薄膜材料的電阻率，磁阻的測(cè)量（較大厚度0.2mm）
3.金屬塊體材料電阻率的測(cè)量（較大厚度3mm）
4.磁性合金薄膜的磁電阻測(cè)量
5.鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測(cè)量
6.自旋閥型巨磁電阻薄膜、隧道結(jié)型磁電阻薄膜的磁電阻測(cè)量
三、主要技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | TFRT-300A | TFRT-300B | TFRT-300C |
溫度范圍 | 150K~600K | RT~1200 ℃ | RT~1800 ℃ |
磁場(chǎng) | 0~1.3T（匹配） | ||
電阻測(cè)量范圍 | 1μΩ~3MΩ，準(zhǔn)確度：± 0.1％FS | ||
溫度測(cè)量精度 | 熱電阻0.1%±0.1℃；熱電偶0.5%±0.5℃ | ||
恒流源 | 1μA~1A，準(zhǔn)確度：± 0.1％FS（FS為滿量程值） | ||
供電電源 | 220 V AC | ||
額定功率 | < 2000W | ||
注意事項(xiàng) | 溫度和電阻測(cè)量范圍等可按需求定制，請(qǐng)咨詢技術(shù)人員 |
