詢價
- 類型：立式光學(xué)計
- 測量范圍：被測件0～180mm，小示值0.1μm
- 小顯示值：0.1μm
- 被測件*大長度：200mm
- 測量力：(2±0.2)N
- 直接測量范圍： 10mm
JDG-S2 數(shù)字式立式光學(xué)計
被測件0～180mm，小示值0.1μm
一、用途
數(shù)字式立式光學(xué)計JDG-S2是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。
主要參數(shù)
被測件*大長度： 200mm
直接測量范圍： 10mm
小顯示值： 0.1μm
測量力： (2±0.2)N
示值變動性： 0.1μm
大不準(zhǔn)度： ±0.25μm
讀數(shù)方式： 數(shù)字顯示
大測量： ±(0.5+L/100)μm ，L是被測長度,以mm計
儀器體積： 300×170×410mm
儀器重量：18 kgs
JDG-S2 數(shù)字式立式光學(xué)計
被測件0～180mm，小示值0.1μm
一、用途
數(shù)字式立式光學(xué)計JDG-S2是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。
主要參數(shù)
被測件*大長度： 200mm
直接測量范圍： 10mm
小顯示值： 0.1μm
測量力： (2±0.2)N
示值變動性： 0.1μm
大不準(zhǔn)度： ±0.25μm
讀數(shù)方式： 數(shù)字顯示
大測量： ±(0.5+L/100)μm ，L是被測長度,以mm計
儀器體積： 300×170×410mm
儀器重量：18 kgs
JDG-S2 數(shù)字式立式光學(xué)計
被測件0～180mm，小示值0.1μm
一、用途
數(shù)字式立式光學(xué)計JDG-S2是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。
主要參數(shù)
被測件*大長度： 200mm
直接測量范圍： 10mm
小顯示值： 0.1μm
測量力： (2±0.2)N
示值變動性： 0.1μm
大不準(zhǔn)度： ±0.25μm
讀數(shù)方式： 數(shù)字顯示
大測量： ±(0.5+L/100)μm ，L是被測長度,以mm計
儀器體積： 300×170×410mm
儀器重量：18 kgs
