- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 產(chǎn)地：英國(guó)ABERLINK
- 精度：2.5um
- 分辨率：0.0005mm
瑞士丹青Werth公司六十多年來專注于多傳感器的復(fù)合式光學(xué)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的開發(fā)研究。主要有三大系列(Scope、Video、Tomo)的測(cè)量機(jī)。Werth測(cè)量機(jī)的測(cè)量范圍從幾十個(gè)毫米到數(shù)米，測(cè)量精度從幾個(gè)微米到百個(gè)納米級(jí)別。可使用的各種測(cè)量傳感器有：Werth光學(xué)傳感器、Werth光纖探針、線激光掃描、傅科激光、色差傳感器、觸發(fā)式探針、掃描式探針、Werth X射線傳感器等十多種。德國(guó)Werth測(cè)量機(jī)的應(yīng)用范圍非常廣泛，其數(shù)千個(gè)用戶和上萬臺(tái)測(cè)量機(jī)遍及全球。應(yīng)用行業(yè)有汽車工業(yè)，航天航空，電子工業(yè)，珠寶制作，塑料注塑，醫(yī)療技術(shù)，計(jì)量單位，鋁及塑料壓制成型等。測(cè)量軟件基于Windows的圖形用戶界面，擁有3D CAD的支持，測(cè)量結(jié)果基于測(cè)量數(shù)據(jù)集高速三維重構(gòu)，在BestFit，ToleranceFit和SPC模塊中進(jìn)行分析處理，簡(jiǎn)體中文支持。
瑞士丹青Werth TomoScope XS系列X射線三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)有130kv和160kv兩組能量可選，是針對(duì)塑料、軟膠、小金屬件、小模數(shù)齒輪、易變形件等實(shí)現(xiàn)一鍵式快速掃描測(cè)量，2分鐘即可完成一次掃描。將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化全尺寸測(cè)量機(jī)。對(duì)工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸的精密測(cè)量的同時(shí)，可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析?？蓪?duì)塑料、陶瓷、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進(jìn)行全尺寸測(cè)量和裝配評(píng)估等。我們同時(shí)還擁有其它五個(gè)系列七組能量的產(chǎn)品線滿足不同領(lǐng)域不同應(yīng)用的測(cè)量要求。
TomoScope XS / XS Plus主要特點(diǎn)
◆ 根據(jù)計(jì)算機(jī)斷層掃描原理進(jìn)行測(cè)量的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
◆ 使用穿透型射線源進(jìn)行快速高辨率掃描
◆ 單體式機(jī)器設(shè)計(jì)極大降低使用成本
◆ 堅(jiān)固的花崗巖基座，保證機(jī)器具有高穩(wěn)定性；高精密氣浮轉(zhuǎn)臺(tái)系統(tǒng)，確保實(shí)現(xiàn)精度的測(cè)量
◆ 集成控制系統(tǒng)為一體的緊湊型機(jī)器結(jié)構(gòu)不占用空間
◆ 機(jī)器重量輕可擺放在任意位置
◆ 機(jī)器校準(zhǔn)符合規(guī)定，測(cè)量結(jié)果可靠并可追溯，可出具DAKKS校準(zhǔn)證書
◆ 應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，例如可測(cè)量玻璃纖維密集的塑料或金屬零件專業(yè)測(cè)量軟件可在斷層掃描過程中進(jìn)行實(shí)時(shí)三維重構(gòu)
◆ 測(cè)量機(jī)完全滿足X射線使用安全標(biāo)準(zhǔn)
◆ 選用全球廣泛應(yīng)用的WinWerth三坐標(biāo)測(cè)量軟件 (德國(guó)國(guó)家計(jì)量院PTB長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證) ，界面友好操作簡(jiǎn)單可選：
◆ Werth公司專利技術(shù)的柵格斷層掃描技術(shù)：擴(kuò)展測(cè)量范圍，提高細(xì)節(jié)分辨率實(shí)現(xiàn)微小細(xì)節(jié)高精度測(cè)量
◆ Muti-ROI(專利技術(shù))局部任意感興趣區(qū)域掃描：針對(duì)工件任意感興趣區(qū)域?qū)崿F(xiàn)在同一基準(zhǔn)下高分辨率掃描并實(shí)現(xiàn)微小細(xì)節(jié)尺寸精準(zhǔn)測(cè)量，提高測(cè)量效率
◆ OFT飛行測(cè)量模塊(專利技術(shù))基于WINWERTH專有的實(shí)時(shí)掃描重構(gòu)技術(shù)，配置連續(xù)圖像提取功能有效減少掃描時(shí)間，提高測(cè)量效率。與傳統(tǒng)掃描相比測(cè)量速度提升3-10倍
◆ 切片斷層掃描功能，可對(duì)體素、體積上任意位置的切面進(jìn)行評(píng)估。
◆ 可升級(jí)到160KV 80W透射式射線源滿足未來高密度，大穿透范圍的測(cè)量需求
◆ Werth刀具校正(專利)功能，可直接校正壓鑄造測(cè)量結(jié)果
