詢價
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：中國
- 測量范圍：0.0~500μm
- 測量原理：磁感應(yīng)
涂層測厚儀 型號:KM1-LS225庫號：M410468
LS225涂鍍層測厚儀由LS225主機(jī)和探頭組成，目前主機(jī)可支持F500鐵基探頭和N1500、N2000非鐵基探頭。F500和N1500采用小探頭設(shè)計，適合于釘子、螺栓等小工件的薄鍍層或各種鋁材表面、陽極氧化層測量。N2000采用自重觸發(fā)測量設(shè)計，適合測量平面板材的涂層厚度。
涂層測厚儀 型號:KM1-LS225庫號：M410468
探頭型號
F500鐵基探頭
測量原理：磁感應(yīng)
基體材料：鐵磁性金屬
測量范圍：0.0~500μm
測量間隔：
1.5s(單次模式)
0.4s(連續(xù)模式)
分辨率：
0.1μm:（0μm ～ 99.9μm）
1μm:（100μm ～500μm）
重復(fù)性：≤±（0.8%H+0.1μm）手壓測試機(jī)架測試，H為標(biāo)準(zhǔn)值
誤差：±（2%H+0.3μm）五點校準(zhǔn)，H為標(biāo)準(zhǔn)值
單位：μm / mil
小曲率半徑：凸面1.5mm，凹面10mm
小基體厚度：0.1mm
涂層測厚儀 型號:KM1-LS225庫號：M410468
涂層測厚儀 型號:KM1-LS225庫號：M410468
