詢價
- 企業(yè)類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：中國
- 測溫范圍：0~199.9μg/LSiO2
- 基本誤差：≤±2.5%FS
實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C
技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長|期|漂|移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C
技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長|期|漂|移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C
技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長|期|漂|移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
