詢價(jià)
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：臺(tái)灣
- )偵測(cè)範(fàn)圍：1pC~2000pC
- 交流耐壓輸出： 0.1kVac~10kVac
Chroma 19501-K局部放電測(cè)試器內(nèi)建交流耐電壓測(cè)試(Hipot Tes t)與局部放電(Par t ial
Di s c h a rg e, PD)偵測(cè)功能於一單機(jī)，Chroma 19501-K提供交流電壓輸出0 . 1 k V ~ 1 0 k V，漏電流測(cè)量範(fàn)圍0 . 0 1 μ A~3 0 0 μ A，局部放電偵測(cè)範(fàn)圍1pC~2000pC，針對(duì)高壓半導(dǎo)體元件與高絕緣材料測(cè)試應(yīng)用所設(shè)計(jì)與開發(fā)。
Chroma 19501-K局部放電測(cè)試器產(chǎn)品設(shè)計(jì)符合IEC60270-1法規(guī)，針對(duì)高電壓試驗(yàn)技術(shù)中對(duì)
局部放電測(cè)試要求，採(cǎi)用窄頻濾波器 (Narrow-band) 量測(cè)技術(shù)進(jìn)行PD放電量測(cè)量，並將量測(cè)
結(jié)果以直觀數(shù)值 (pC) 顯示在螢?zāi)簧献屖褂谜咔宄髁舜郎y(cè)物測(cè)試判定結(jié)果。
Chroma 19501-K產(chǎn)品設(shè)計(jì)上，除了符合IEC60270-1，同時(shí)也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規(guī)要求，內(nèi)建IEC60747-5-5法規(guī)之測(cè)試方法於儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試需求，並提使用者便利的操作介面。
於生產(chǎn)線上執(zhí)行高壓測(cè)試時(shí)，如果待測(cè)物未能正確及良好連接測(cè)試線，將導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果失敗甚至發(fā)生漏測(cè)的風(fēng)險(xiǎn)，因此在測(cè)試前確保待測(cè)物與測(cè)試線良好連接是非常重要的。Chroma獨(dú)特之高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC) 係利用Kelvin測(cè)試方法針對(duì)高絕緣能力之元件，於高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查，增加測(cè)試有效性與生產(chǎn)效率。在固體絕緣物中含有氣隙或雜質(zhì)混合在絕緣層時(shí)，額定工作高壓狀態(tài)下，由於較高的電場(chǎng)強(qiáng)度集中於氣隙而產(chǎn)生局部放電 (Partial Discharge),持續(xù)性的局部放電會(huì)長(zhǎng)久劣化周遭絕緣材，而影響電氣產(chǎn)品之長(zhǎng)久信賴性，而引起安全事故。應(yīng)用於電源系統(tǒng)之安規(guī)元件，如光耦合器，因考量如果元件長(zhǎng)時(shí)間發(fā)生局部放電對(duì)於絕緣材料的破壞，而發(fā)生絕緣失效的情況，進(jìn)而引發(fā)使用者人身安全問(wèn)題；因此，在IEC60747-5-5法規(guī)中提及，於生產(chǎn)過(guò)程中 (Routine test) 必須100%執(zhí)行局部放電 (Partial discharge) 檢測(cè)，在絕緣電壓條件下不能超過(guò)5pC放電量，確保產(chǎn)品在正
常工作環(huán)境中不會(huì)發(fā)生局部放電現(xiàn)象。局部放電測(cè)試器主要針對(duì)高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關(guān)等高絕緣耐受力之元件，提供高壓的耐壓測(cè)試與局部放電偵測(cè)，確保產(chǎn)品品質(zhì)與提升產(chǎn)品可靠度。
