詢價
- 適用尺寸：3.2mmx2.5mm~1.6mmx0.8mm
- 測試包裝速度：600ppm~1500ppm
- WxD(mm)：3.2x2.5
- 單面電極：600
- 五面電極：900
- 電源需求：單相220V，頻率60Hz/2.0kW
- 重量：約500kg
- 尺寸：W1280xH1495xD900mm
電感層間短路自動測試系統(tǒng)
INDUCTOR LAYER SHORT ATS
MODEL CHROMA 1871
為因應現(xiàn)今電子產(chǎn)品，薄型化的電感器被大量使用，相對的也需大量生產(chǎn)，Chroma/致茂1871生產(chǎn)效率為每分鐘1,500個，可滿足龐大產(chǎn)能需求。利用一次5組層間短路測試站同時測試來達到快速量產(chǎn)。亦可選擇僅搭配2組層間短路測試站給予不需量產(chǎn)的研發(fā)或品保等單位使用，以符合成本效益。Chroma/致茂1871的測試功能為層間短路測試(IWT)，是把關芯片電感質(zhì)量的測試系統(tǒng)。此系統(tǒng)也承襲Chroma19301A繞線組件脈沖測試器所有的判斷功能，包含波形面積比(Area)、放電二次微分偵測(Laplacian)及新的測試判斷功能波峰降比(ΔPeakRatio)、共振波面積比(ΔResonantArea)。致茂電子專注于精密電子量測技術(shù)，自動測試設備的治具亦可量身訂做。1871使用的測試座為類四線式量測設計，測試座與產(chǎn)品的連接端采片式設計，比一般測試設備使用的探針更容易接觸且壽命長；量測時，片式設計也比探針穩(wěn)定、容易維護。
基本特點
■適用尺寸3.2mmx2.5mm~1.6mmx0.8mm
■測試包裝速度600ppm~1500ppm
■層間短路判斷功能：
-面積比(Area)
-放電二次微分偵測(Laplacian)
-波峰降比(ΔPeakRatio)
-共振波面積比(ΔResonantArea)
■具接觸檢查功能以延長治具使用期限
■可選擇搭配5組或2組測試站
■導引盤設計，無掉料疑慮
■類四線式量測設計的測試座
■具有各種不良品獨立收集盒
■專用數(shù)據(jù)收集軟件，可實時監(jiān)控生產(chǎn)質(zhì)量
■切換式中/英/日文操作接口
■設備快速、穩(wěn)定、安全
致茂1871產(chǎn)品應用
圓振盤入
料供料組是決定生產(chǎn)效能的關卡，圓振盤供料快速且穩(wěn)定，以往待測物方向不易定位，大多以直線式供料設計，并在供料的直線路徑中加入偵測及翻轉(zhuǎn)的相關機構(gòu)，增加占用空間且供料速度受限；圓振盤的優(yōu)點為螺旋式路徑，配合光纖偵測及吹氣機構(gòu)即可完成待測物正確翻轉(zhuǎn)、固定方向供料，毋需復雜的翻轉(zhuǎn)機構(gòu)，使用空間小，達到快速、穩(wěn)定及方向一致的供料。
類四線式量測專用測試座
芯片型電感的規(guī)格非常小，在進行層間短路測試時容易受到配線及治具的影響。一般測試座為二線式設計，進行電感值較小的層間短路測試時，配線的影響更為顯著，容易發(fā)生實際施加于芯片型電感上的電壓低于設定電壓。類四線式的特殊設計使輸出訊號傳送及測量訊號擷取的影響降到教低，所以不易受配線影響，搭配Chroma19301A的電壓輸出補償功能后，可確保設定電壓與實際施加電壓一致。
低電感繞線組件脈沖測試器
致茂1871電感層間短路自動測試系統(tǒng)搭配Chroma19301A針對低感量的功率電感所設計的層間耐壓測試器，針對其測試特性提供四線式測量，具接觸檢查功能(專利)，可避免接觸不良或開路時造成治具因高壓而跳火使壽命減短；另具備電感差異電壓補償功能(專利)，減少因電感本身感量的差異造成測試電壓之誤差，其高速量測亦可搭配自動化測試系統(tǒng)使用于生產(chǎn)線。判定功能為Chroma特有的測試技術(shù)，可檢出Rp異?；蛄踊?，提升產(chǎn)品質(zhì)量。特點如下：
?測試應用0.1μH~100μH
?脈沖電壓10V~1000V
?高速測試<18mshighspeedtest
?脈沖測試取樣率(200MHz)10bits
?電感測試接觸檢查功能
?電感差異電壓補償功能
?崩潰電壓分析功能
?USB波形儲存&畫面擷取功能
