詢價(jià)
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：臺(tái)灣
- 脈沖測(cè)試電壓：10V~1000V
- 測(cè)試速度：18mS
- 感量測(cè)試范圍：(0.1μH~100μH
繞線組件脈沖測(cè)試器
IMPULSE WINDING TESTER
MODEL CHROMA 19301A
Chroma19301A為繞線組件脈沖測(cè)試器，結(jié)合了高低感量測(cè)試技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH大范圍感量產(chǎn)品測(cè)試滿足絕大部份功率電感測(cè)試需求，擁有波形面積比較(AREASIZE)、波形面積差比較(DIFFERENTIALAREA)、波形顫動(dòng)偵測(cè)(FLUTTER)、波形二階微分偵測(cè)(LAPLACIAN)、波峰降比偵測(cè)(ΔPEAKRATIO)/波峰比偵測(cè)(PEAKRATIO)及共振波面積比(ΔRESONANTAREA)等判定方法，可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良。繞線組件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐壓進(jìn)行測(cè)試，而線圈之自體絕緣不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、molding加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所引起，故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性.
主要特點(diǎn)
■高低感量測(cè)試應(yīng)用(0.1μH~100μH)
■10V~1000V脈沖測(cè)試電壓，0.25V測(cè)量分辨率
■高速測(cè)試最快18mS(Pulse1.0;forACQ)
■具備電感測(cè)量接觸檢查功能
■具備電感差異電壓補(bǔ)償功能
■脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)，10bits
■崩潰電壓分析功能
■低電壓量測(cè)文件位,提高波形分析靈敏度(25V/50V/100V/200V/400V/800V/1000V)
■繁中/簡(jiǎn)中/英文操作接口
■USB波形儲(chǔ)存與畫面擷取功能
■圖形化彩色顯示
■標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232接口
脈沖測(cè)試概論與原理
繞線組件脈沖測(cè)試是對(duì)待測(cè)物施加一個(gè)『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖。由于電容(Cs)與繞線組件并聯(lián)，當(dāng)脈沖電壓加壓于并聯(lián)線路上時(shí)，電容與繞線組件產(chǎn)生LC諧振(Resonance)，觀察諧振振蕩(Oscillations)的衰減情況也就是阻尼(Damping)來(lái)了解繞線組件內(nèi)部線圈的制程狀態(tài)(包含線圈自體之絕緣、線圈感量及并聯(lián)電容量(Cw)等狀態(tài))(如圖1:測(cè)試等效電路圖)。也可藉由分析／比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線組件脈沖測(cè)試主要功能為提早發(fā)現(xiàn)繞線組件中各種潛在之缺陷(例如：繞線層間短路、電極焊接不良、內(nèi)部線圈或磁芯絕緣不良等)。
Rp檢查(RpCheck)
利用波峰比偵測(cè)(PeakRatio)來(lái)偵測(cè)Rp的大小為Chroma特有的測(cè)試技術(shù)，可檢出Rp異?；蛄踊?部分電感待測(cè)物在測(cè)試前既已因鐵芯損失過(guò)大或輕微鐵芯與漆包線短路導(dǎo)致Q值略低(Rp小)，脈沖測(cè)試結(jié)束后，將開(kāi)關(guān)開(kāi)路(SW1OFF)并觀察電壓震蕩波形中峰值與第二個(gè)峰值的衰減速度及比例之差異來(lái)檢測(cè)出異常品。波峰比的值越大表示Rp的值也越大,相對(duì)的Q值也會(huì)比較高。
低電壓文件位
低感量產(chǎn)品，如智能型手機(jī)中的Powerchoke，其工作電壓較低且體積較小，可測(cè)試電壓相對(duì)較低，因此用于量測(cè)低感量之脈沖測(cè)試設(shè)備需具備較低電壓文件位來(lái)進(jìn)行波形分析，Chroma19301A具有七個(gè)電壓文件位分別為25V,50V,100V,200V,400V,800V及1600V,以及擁有較低0.25V的電壓辨識(shí)度，測(cè)試電壓可從10V開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試，可有效提高波形判定辨識(shí)能力。
電壓補(bǔ)償功能
一般如變壓器等感量較大的線圈進(jìn)行測(cè)試時(shí)，配線等效感量相對(duì)較小，但在低感量測(cè)試時(shí)，低感量待測(cè)物(如0.2uH)會(huì)因配線等效感量大小會(huì)影響待測(cè)物上之實(shí)際電壓，尤其在自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用時(shí)，降低配線影響是一重要設(shè)計(jì)考慮。過(guò)高的配線阻抗會(huì)使低感量測(cè)試時(shí)電壓分壓在測(cè)在線，導(dǎo)致待測(cè)物上的電壓低于設(shè)定值而無(wú)法有效檢出不良品。且電感產(chǎn)品感量規(guī)格可達(dá)正負(fù)30%，因此于低感量測(cè)試應(yīng)用時(shí)，會(huì)因待測(cè)物感量變化而造成實(shí)際端點(diǎn)上電壓差異更加明顯，導(dǎo)致波形面積判定失效或測(cè)試電壓未達(dá)要求之電壓。Chroma19301A具備電感差異電壓補(bǔ)償功能，改善上述問(wèn)題及降低因感量差異造成于端點(diǎn)上實(shí)際電壓的差異，進(jìn)而降低誤判的可能性。一般應(yīng)用時(shí)電感待測(cè)物(Lx)兩端端電壓(Vx)會(huì)與配線電感(Li&Lw)于線路上形成串聯(lián)分壓,其計(jì)算方式如下:
