詢價
- 移動平臺：精密的三維移動平臺
- 樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
- 分析范圍：同時可以分析30種以上元素，五層鍍層
- 檢出限：可達2ppm，最薄可測試0.005μm
- 鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達0.1%
- 同時檢測元素：最多24個元素，多達五層鍍層
- 準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合
鍍層測厚儀用于金屬鍍層厚度測定、電鍍液和鍍層含量測定。主要用于貴金屬加工和珠寶加工行業(yè)的銀行、珠寶銷售和檢查機構(gòu)的電鍍行業(yè)。配置清單。開放式樣品室。高精度二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下移動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin電冷卻半導(dǎo)體探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。x光管。高度傳感器。保護傳感器計算機和噴墨打印機。XRF鍍層厚度計的性能特征。
滿足各種厚度樣品和不規(guī)則表面樣品的測試需求。φ0.1mm的小孔準直器可滿足小測試點的需要。高精度移動平臺可定位試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自動定位測試高度。定位激光確定定位光點，確保測試點與光點對齊。鼠標可以控制移動平臺，鼠標點擊的位置是測量點。高分辨率探針使分析結(jié)果更加準確。良好的射線屏蔽作用。測試口高度敏感傳感器保護。XRF鍍層厚度計的型號和技術(shù)參數(shù)。型號:Thick800A。元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。同時可分析30種以上要素，5層鍍層。分析含量般為ppm至99.9%。鍍層厚度般在50μm以內(nèi)(因材料而異)任意多的多種分析和識別模型。相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。變量非線性回收程序。溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源:交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm。樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H)mm。
