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Chroma 19501-K局部放電測試器內(nèi)建交流耐電壓測試(HipotTest)與局部放電(PartialDischarge,PD)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出0.1kV~10kV，漏電流測量范圍0.01μA~300μA，局部放電偵測范圍1pC~2000pC，針對高壓半導體組件與高絕緣材料測試應用所設計與開發(fā)。Chroma19501-K局部放電測試器產(chǎn)品設計符合IEC60270-1法規(guī)，針對高電壓試驗技術中對局部放電測試要求，采用窄頻濾波器(Narrow[1]band)量測技術進行PD放電量測量，并將量測結果以直觀數(shù)值(pC)顯示在屏幕上讓用戶清楚明了待測物測試判定結果。產(chǎn)品設計上，除了符合IEC60270-1，同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規(guī)要求，內(nèi)建IEC60747-5-5法規(guī)之測試方法于儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測試需求，并提供用戶便利的操作接口。應用于電源系統(tǒng)之安規(guī)組件，如光耦合器，因考慮如果組件長時間發(fā)生局部放電對于絕緣材料的破壞，而發(fā)生絕緣失效的情況，進而引發(fā)使用者人身安全問題；因此，在IEC60747-5-5法規(guī)中提及，于生產(chǎn)過程中(Routinetest)必須100%執(zhí)行局部放電(Partialdischarge)檢測，在絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產(chǎn)品在正常工作環(huán)境中不會發(fā)生局部放電現(xiàn)象。

主要特點

■單機內(nèi)建交流耐壓測試與局部放電偵測功能

■可程序交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac

■高精度及高分辨率電流表0.01μA~300μA

■局部放電(PD)偵測范圍1pC~2000pC

■高壓接觸檢查功能(HVCC)

■符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC60270法規(guī)測試要求

■內(nèi)建IEC60747-5-5測試方法

■量測與顯示單元分離式設計

■三段電壓測試功能

■PD測量結果數(shù)值顯示(pC)

■PD不良發(fā)生次數(shù)判定設定(1~10)

■多語系繁中/簡中/英文操作接口

■USB畫面擷取功能

■圖形化輔助編輯功能

■標準LAN、USB、RS232遠程控制接口

局部放電量測技術

局部放電意指在絕緣物體中局部區(qū)域發(fā)生放電，且未形成兩電極間的固定通道放電即稱為局部放電。局部放電測試器對待測物施加一個特定條件下的電壓，測量其視在放電電荷量(PD)，除了驗證其能否承受瞬間高電壓(HipotTest)的能力，同時也驗證在額定工作電壓的絕緣完整性。局部放電測試能夠偵測待測物是否存在異常氣隙，透過施加一個略高于組件高額定工作電壓的局部放電電荷測試，用以檢驗電氣組件在正常工作電壓條件下之長久可靠性，但于實際生產(chǎn)上絕緣材料內(nèi)部當然不可能百分之百無氣隙存在于絕緣材料內(nèi)，故在IEC60747-5-5光耦合器法規(guī)針對局部放電測試定義其放電電荷量不能大于5pC(qpd=5pC)。

局部放電器校正

局部放電測試設備用于測量與判定微小放電量，其訊號非常微小且快速，因此局部放電量測設備于出廠前必須透過精密的校正才能確保放電發(fā)生時，其高頻訊號能夠被精準的測量，在高壓試驗技術法規(guī)標準IEC60270-1章節(jié)中對于局部放電的校正標準與方法在法規(guī)條文中有明確指示跟說明，Chroma19501-K局部放電器亦依據(jù)法規(guī)要求進行設計與開發(fā)。校正器上所使用的標準電容Co通常為一個低壓電容器，因此執(zhí)行PD校正時局部放電測試器設備是在不帶電的狀態(tài)下進行校正，也就是只針對PD量測回路執(zhí)行校正，在法規(guī)內(nèi)文中也有說明，為了使校正有效，用于校正器上的標準電容Co必須小于0.1Ca，則校正器上的脈沖等效放電量qo=VoCo單次放電脈沖。如圖說明: