Chroma 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀主要特色:
500VA 輸出
Floating 輸出設(shè)計(jì),符合EN50191要求
Corona 電暈放電偵測(cè)(19055-C)
Flashover 電氣閃絡(luò)偵測(cè)
BDV崩潰電壓分析
HFCC高頻接觸偵測(cè)
OSC開(kāi)短路偵測(cè)
GFI人體保護(hù)電路
標(biāo)準(zhǔn)RS232&HANDLER介面
可選購(gòu)GPIB介面
不良時(shí)面板鎖定功能
可程式電壓輸出及測(cè)試限制值
支援 A190301 高壓掃描治具
Chroma 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀量測(cè)技術(shù)
耐壓測(cè)試絕緣崩潰(BREAKDOWN) /電氣閃絡(luò)(FLASHOVER) /電暈放電偵測(cè)技術(shù)(CORONA)
何謂耐壓不良? 大部份的電氣安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)敘述為"During the test, no flashover or breakdown shall occur",意指在耐壓測(cè)試中,不得有電氣閃絡(luò)或絕緣崩潰發(fā)生。但現(xiàn)今絕緣失效(Failure)及放電(discharge)已成為各類(lèi)絕緣材料或耐壓零組件最重視的議題。由于放電與絕緣能力之間具有極高的相關(guān)性,所以放電偵測(cè)不僅是安全議題,更是控制產(chǎn)品品質(zhì)的主要關(guān)鍵。若依材料放電的性質(zhì)來(lái)分類(lèi),放電可分為三種 : 電暈放電(Corona discharge)、火花放電(Glow discharge)、電弧放電(Arc discharge) 。
電暈放電(Corona Discharge): 當(dāng)二電極間承受較高電壓時(shí),電場(chǎng)強(qiáng)度相對(duì)較大,當(dāng)此作用大于氣體之電離位能(Ionization Potential) ,于材料表面氣體發(fā)生暫態(tài)離子化的現(xiàn)象,此時(shí)會(huì)有可見(jiàn)光出現(xiàn)以及溫升現(xiàn)象。長(zhǎng)期的電暈放電與溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變(Qualitative Change),進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化 (Insulation Deterioration) ,使得絕緣耐受程度下降,最終發(fā)生絕緣失效。圖1為電暈放電示意圖。由于電暈放電會(huì)產(chǎn)生高頻的暫態(tài)放電,是可以用高頻電量量測(cè)的方式偵測(cè)。