- 移動平臺:精密的三維移動平臺
- 樣品腔尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
- 分析范圍:同時可以分析30種以上元素,五層鍍層
- 檢出限:可達(dá)2ppm,最薄可測試0.005μm
- 鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
- 同時檢測元素:最多24個元素,多達(dá)五層鍍層
- 準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
機(jī)型:EDX4500。
商品名:X熒光分光計。
從鈉(Na)到鈾(U)的測量元素范圍
分析范圍:ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
一次分析元素:數(shù)十個元素一次性測定。
計量時間:60-200秒。
X-Ray光譜儀檢測器的能量分辨率:145±5eV。
管子壓力:5KV-50KV。
管流:50μA-1000μA。
X-Ray分光計測量物體狀態(tài):粉末,固體,液體。
輸入電壓:AC110V/220伏特。
室溫:15℃-30℃。
空氣濕度35%-70%
外型尺寸:660mm×510mm×350mm。
試樣室體積:Φ320mm×100mm。
體重:65公斤。
工作特性。
高效率超薄窗X光管,指標(biāo)達(dá)到水平。
采用數(shù)字多道技術(shù),使測試速度更快,計數(shù)率達(dá)到100000CPS。對合金的檢測更有效。
SDD硅漂移探測器具有良好的線性能量、能譜和分辨率,峰背比高。
X-Ray光譜儀低能量X射線激發(fā)待測元素,激發(fā)Si,P等輕元素效果較好。
智能化抽氣系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大大拓展了測試范圍。
本實用新型保證了儀器工作的一致性。
高信噪比電子線裝置。
對于不同的樣品,自動切換準(zhǔn)直器和濾光片,免除了手工操作的繁瑣。
解譜技術(shù)使譜峰分解,使待測元素得到相同的分析精度。
用X-Ray分光計多參數(shù)線性回歸法,可顯著抑制元素間的吸收、強(qiáng)化作用。
內(nèi)置高清攝像機(jī)。
液晶顯示屏讓儀器的重要參數(shù)(管壓,管流,真空度)一目了然。
標(biāo)準(zhǔn)化配置
高效率超薄窗X光管
SDD硅漂探測器
數(shù)字化多重技術(shù)
鋼鐵業(yè)專用配件的試驗。
光學(xué)增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線裝置
內(nèi)置高清攝像機(jī)。
自轉(zhuǎn)換式準(zhǔn)直器和濾波器。
自動化光譜穩(wěn)定設(shè)備。
第三,安全保護(hù)模式。
互不相關(guān)的基體效應(yīng)修正模型
多元非線性回歸分析程序
整機(jī)鋼框架結(jié)構(gòu),力量可靠。
九十毫米×七十毫米液晶屏
負(fù)壓泵
適用范圍。
X—Ray光譜儀鋼樣檢測,全元素分析,有害元素(RoHS,鹵素等)