詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：日本
- 頻率范圍：1 MHz～3 GHz
- 設(shè)置分辨率：100 kHz
- 測量電平：-40.0 dBm ～ +1.0 dBm
- 測量范圍：100 mΩ～5 kΩ
- 分析模式：頻率/掃頻測量
- 基本：Z：±0.65%rdg.
- 測量時間：0.5 ms
- 連續(xù)測量模式：LCR 30通道，分析 16通道
HIOKI/日置IM7587阻抗分析儀技術(shù)參數(shù)：
1、測量頻率范圍：1 MHz～3 GHz
2、設(shè)置分辨率：100 kHz
3、保證時間：1年
4、調(diào)整后保證時間：1年
5、測量電平：-40.0 dBm ～ +1.0 dBm (4 mV ～502 mV)
6、測量時間：0.5 ms(模擬測量時間)
7、測量范圍 ：100 mΩ～5 kΩ
8、測量項目 ：Z, Y, θ, Rs, Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D, Q
9、基本：Z：±0.65%rdg. θ：±0.38°(代表值)
10、接觸檢查：DCR測量，Hi-Z篩選波形判斷(振動檢出)
11、分析模式：頻率/掃頻測量(801點)
12、連續(xù)測量模式：LCR 30通道，分析 16通道
13、接口：處理程序，USB，LAN、GP-IB(選件)，RS-232C(選件)、U盤
HIOKI/日置IM7587阻抗分析儀特點：
一、實現(xiàn)高達3GHz的高頻測量，覆蓋1MHz~3GHz的寬測量頻率。這種偏差小，穩(wěn)定
性高的測量，是最適用于研發(fā)的阻抗分析儀；
二、裝卸簡單提供準確的SMD測量：使用可對應(yīng)6種尺寸SMD的專用選件IM9201(另售)，可簡單準確的測量被測物；
三、接觸檢查(DCR測量和Hi-Z篩選)：通過DCR測量電感線圈，然后用Hi-Z篩選電容器從而進行各種接觸檢查。無論哪種情況都與檢查出的振動結(jié)合，實現(xiàn)可以信賴的測量。
四、節(jié)省空間的緊湊型機身：主機尺寸為215W×200H×348D mm為通常一半。作為該級別測試儀，屬于超級輕便的機型。
HIOKI/日置IM7587阻抗分析儀配置：
主機構(gòu)成：IM7587主機，測試前端，連接線
訂購型號(連接線長度)：
選件
1、SMD測試治具IM9201
2、測試治具臺IM9200
3、適配器(3.5 mm-7 mm)IM9906
4、校正板IM9905(預(yù)定近期發(fā)售)
