- 企業(yè)類型：生產(chǎn)商
JKZC-ST4型半導(dǎo)體材料四探針測試儀
關(guān)鍵詞：電阻，電阻率，四探針，半導(dǎo)體
JKZC-ST4型半導(dǎo)體材料四探針測試儀 關(guān)鍵詞：電阻，電阻率，四探針，半導(dǎo)體 薄 膜探頭測薄膜 鎢針探頭 一、產(chǎn)品概述 JKZC-ST4型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 儀器具有測量高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。 儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。 二、符合： 1、符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、 2、符合GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》 3、符合美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn) 二、產(chǎn)品應(yīng)用： 1、測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻； 2、可測柔性材料導(dǎo)電薄膜電阻率/方阻 3、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）電阻率/方阻 4、納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻 5、電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量 6、可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻 二、基本技術(shù)參數(shù) 1、 測量范圍 電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 2、測量方式：自動或手動 3、基本：±0.1/% 4、四探針探頭： (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào) (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可 5. 電源：198V －242V(AC），47.5Hz －63Hz 6、操作環(huán)境： 0°C －40°C ，≤90%RH 7、外形尺寸：200mm（長）×220 mm（寬）×100mm（高） 8、數(shù)據(jù)傳輸方式；USB 9、軟件方式：人性化分析軟件界面，數(shù)據(jù)自動生成 分析軟件（一） 
