點針工作站手動分析探針臺失效分析半導(dǎo)體測試元器件電性能測試

在集成電路的研發(fā)、生產(chǎn)制造、實效分析過程中，經(jīng)常要量測內(nèi)部的電參數(shù)，由于制成的越來越低，沒有辦法用簡單的萬用表、示波器的表筆來探測信號。手動分析探針臺能很好的幫助工程人員實現(xiàn)微小位置的電學(xué)參數(shù)測試。Advanced在中國推出手動分析探針臺近10年歷史，銷售實績800多臺，并且每年銷量行業(yè)銷量。行業(yè)客戶有：友達光電、華映光電、奇美光電、群創(chuàng)光電、飛兆半導(dǎo)體、德州儀器、華虹集成、華為、電子五所、航天808所、航天201所、中科院微電子所、蘇州中科院納米研究所、復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、西安電子科技大學(xué)、溫州大學(xué)、福州大學(xué)、廈門大學(xué)等等……

點針工作站手動分析探針臺失效分析半導(dǎo)體測試元器件電性能測試

型號：   PW-400                              
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項）
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)2～4顆
適用領(lǐng)域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學(xué)單位等

點針工作站手動分析探針臺失效分析半導(dǎo)體測試元器件電性能測試

型號：   PW-600/PW-800

規(guī)格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動移動行程150mm（200mm）
chuck粗調(diào)升降8mm，微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域：6寸/8寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
 
 RF高頻探針臺

東、南、西、北測試臂
搭配美國GGB高頻測試頭
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探針材料：BeCu/Tungsten