一、簡述

Elogger  EL-210 應變測試儀是針對印刷電路板應力應變測試應用所進行設計的儀器，測試項目包括：錫球破裂、布線損毀、焊盤分離和基板分離等。提供實時數(shù)據(jù)監(jiān)控，避免測試過程中出現(xiàn)故障。

二、應用

Elogger  EL-210 應變測試儀廣泛應用于電子產(chǎn)品等領(lǐng)域的測試，通過應變、應變速率上的客觀分析，為蘋果、華為、格力、美的等客戶的電路板工藝優(yōu)化提供了重要依據(jù)。

三、特點

1.設備輕巧、便攜

2.可直接和應變片相連

3.允許120Ω或350Ω的1/4橋接入

4.每通道采樣速率可達10k-500kHz（由選配板卡決定）

5.每通道同時使用混疊濾波器和模擬轉(zhuǎn)數(shù)字進行采樣

6.提供型U接口

7.主機支持多款模塊

8.合/JEDEC-9704標準的要求

四、參數(shù)

1.測量類別：應變

2.測量對象：120Ω應變片

3.測量范圍：±55000με

4.通道數(shù)：8通道、16通、24通道、32通道、48通道、64通道

5.每通道采樣率：10k-500kHz（由選配板卡決定）

6.AD分辨率：24bit

7.：±0.02%

8．重量：0.8-3.5kg

9.環(huán)境溫度：-40℃-70℃

10.環(huán)境濕度：10%-90%

11.接口：U2.0

12.輸入電壓：100V-240VAC

五、儀器說明

1.EL-110可配64個通道，重量3.5kg，尺寸：260*105*104mm

2.EL-210可配32個通道，重量2.2kg，尺寸：163*105*102mm

3.EL-310可配8個通道，重量0.8kg，尺寸：145*105*104mm

六、軟件介紹

1.具備一鍵輸出功能，合/JEDEC-9704標準

2.支持多種語言，如英文、中文

3.提供diagonal strain、Max/Min principal strain、strain rate、Qstrain等數(shù)據(jù)分析