四寸手動探針臺 電性測試儀 失效分析設備

型號：   PW-400                              
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項）
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)2～4顆
可以搭配測試機量測I/V、c/v、電阻、電容等參數(shù)

四寸手動探針臺 電性測試儀 失效分析設備

在集成電路的研發(fā)、生產(chǎn)制造、實效分析過程中，經(jīng)常要量測內部的電參數(shù)，由于制成的越來越低，沒有辦法用簡單的萬用表、示波器的表筆來探測信號。手動分析探針臺能很好的幫助工程人員實現(xiàn)微小位置的電學參數(shù)測試。Advanced在中國推出手動分析探針臺近10年歷史，銷售實績800多臺，并且以每年銷量行業(yè)銷量。行業(yè)客戶有：友達光電、華映光電、奇美光電、群創(chuàng)光電、飛兆半導體、德州儀器、華虹集成、華為、電子五所、航天808所、航天201所、中科院微電子所、蘇州中科院納米研究所、復旦大學、上海交通大學、西安電子科技大學、溫州大學、福州大學、廈門大學等等……

四寸手動探針臺 電性測試儀 失效分析設備

型號：   PW-400                              
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項）
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)2～4顆
適用領域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學單位等

四寸手動探針臺 電性測試儀 失效分析設備