高石英晶振測(cè)試設(shè)備，晶振測(cè)試系統(tǒng)GDS-80

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

高石英晶振測(cè)試設(shè)備，晶振測(cè)試系統(tǒng)GDS-80是高性價(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng)，采用微處理器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。高石英晶振測(cè)試設(shè)備，晶振測(cè)試系統(tǒng)GDS-80測(cè)量頻率范圍20KHz-100MHz，附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。高石英晶振測(cè)試設(shè)備，晶振測(cè)試系統(tǒng)GDS-80特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)生產(chǎn)和科研使用。

高石英晶振測(cè)試設(shè)備，晶振測(cè)試系統(tǒng)GDS-80采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等測(cè)量。高石英晶振測(cè)試設(shè)備，晶振測(cè)試系統(tǒng)GDS-80測(cè)量高，速度快；具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測(cè)量，可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù)，負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試，智能運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩，讓晶振測(cè)試變得更輕松。

二、主要技術(shù)指標(biāo)    

1.      中心頻率范圍： 20KHz-100MHz任意設(shè)定   

2.      負(fù)載電容：4-20P 任意設(shè)定

3.      負(fù)載諧振電阻：1Ω-300Ω  1K-300K

4.      PPm范圍測(cè)量：±300ppm

5.      PPm測(cè)量：< 0.5ppm

6.      時(shí)基頻率：16.384M    

7.      晶振穩(wěn)定性：2×10-8 /日  

8.      體積：80×235×305（mm）

9.      保修期：三年

三、特點(diǎn)

1.      阻抗值、ppm同時(shí)顯示

2.      無(wú)需人工校對(duì)，直接測(cè)試多種參數(shù)

3.      新技術(shù)，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)，滿足國(guó)人需求，可替代進(jìn)口設(shè)備

4.      LCD顯示 

5.      PPm超標(biāo)提示功能   

四、儀器配置 

1.      高石英晶振測(cè)試設(shè)備，晶振測(cè)試系統(tǒng)GDS-80 1臺(tái)

2.      電源線 1根 

3.      保修卡一張

4.      說(shuō)明書 1份