- 品牌/商標(biāo)：物科光學(xué)
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 產(chǎn)品型號：WK-MZ-200
- 原產(chǎn)地：四川綿陽
馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位（表現(xiàn)為條紋的變化），從而實現(xiàn)被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質(zhì)折射率的微小變化，可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導(dǎo)等方面的研究。
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四川物科光學(xué)精密機(jī)械有限公司
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