Pinnacle 設(shè)備可以運行操作一個或多個View Micro-Metrology的標(biāo)準(zhǔn)計量軟件程序:
VIEW Metrology Software (VMS?) 是基于Pinnacle+Plus的，并提供多種標(biāo)準(zhǔn)測量工具以及內(nèi)置腳本語言，可以滿足客戶各種功能需求。
Elements? CAD-to-Measure software 在Pinnacle+Plus上是可選功能，在測量程序中可以自動翻譯2-D CAD 文件，甚至一些很復(fù)雜的產(chǎn)品也可以實現(xiàn)快速建立測量程序。
Measure-X? 可選測量軟件， 通過測量直觀的點，常規(guī)界面來指導(dǎo)使用者。
X,Y,Z 測量范圍 (mm) :250 x 150 x 50
X,Y,Z 刻度分辨率: XY - 0.05 μm, 膨脹材料
Z- 0.01μm, 膨脹材料
平臺驅(qū)動: 光滑,線性馬達驅(qū)動X&Y, 直流伺服馬達驅(qū)動Z
速度 : X,Y- 200 mm/sec ， Z- 250 mm/sec
載重 : 25 kg
影像組件 : 單一放大,出廠配置安裝延伸管和附加光學(xué)鏡頭
計量相機 :
標(biāo)準(zhǔn):1.4 兆像素 (1392 x 1040), 1/2-英寸,數(shù)碼, 單色
可選:1.4兆像素 (1392 x 1040), 2/3-英寸,數(shù)碼, 單色
2.0 兆像素 (1628 x 1236), 1/2-英寸,數(shù)碼, 單色
照明:
標(biāo)準(zhǔn): 可編程LED照明系統(tǒng)，同軸底光，面光
可選: 多色可編程環(huán)形光，可控制入射角度，柵格自動聚焦系統(tǒng)
傳感器選項:
標(biāo)準(zhǔn): 無
可選:TTL 激光;
光深范圍的探針;
離軸三角測量激光
控制組件:
標(biāo)準(zhǔn):三軸操縱桿手動控制平臺，帶停止和開始按鈕
可選: 單一LCD平板顯示器, 電腦鍵盤鼠標(biāo)
雙液晶平板顯示器，電腦鼠標(biāo)鍵盤
測量模式:移動測量 (MAM) ，連續(xù)圖像捕獲(CIC)
系統(tǒng)配置:多核處理器, Windows? 7 操作系統(tǒng)，可連接網(wǎng)絡(luò)，通訊端口
電源要求 :115/230 VAC, 50/60 Hz, 1-Phase, 1500W
相關(guān)環(huán)境: 溫度: 18°-22° C. | 濕度: 30% - 80% | 振動小于 15Hz:<0.0015g
XY : E2 =(1.0+5L/1000) μm
Z線性:
標(biāo)準(zhǔn):E1 =(1.5+5L/1000) μm E1
可選: (1.0+5L/1000) μm (with TTL laser and 5X lens)
注意事項:
規(guī)格參數(shù)適用于熱穩(wěn)定儀器和20°C溫度
1. 溫度變化: 1° C/Hour |
2. 垂直溫度梯度: 1° C/Meter
3. 額定速度下均勻分布的負載： 5KG
4.XY: QVI? 柵格線(low expansion material) or QVI標(biāo)準(zhǔn)面線性刻度尺， 標(biāo)準(zhǔn)測量面是指工作平臺上25mm范圍
5.Z軸: QVI 步距規(guī), 干涉儀或主量塊
Pinnacle250 全自動非接觸式影像測量儀是一款度、高的光學(xué)非接觸式三維坐標(biāo)影像測量儀，適用于工藝過程控制測量和質(zhì)檢檢測應(yīng)用。
Pinnacle250 全自動非接觸影像測量儀適用范圍：
◆Flip chip、BGQ、QFP、QFN、MCM等封裝間距、線寬、角度、弧度、高度等尺寸測量
◆ SMT組裝裝配、PCB&FPCB撓性電路等關(guān)鍵尺寸測量
◆ 絲網(wǎng)印刷的孔徑、位置、厚度、角度等測量
◆ Bump on die、Solder Paste、 光纖關(guān)鍵尺寸測量
◆IC & LED封裝引線架Lead frames、探針卡角度、間距、高度等測量
◆ LED SMD封裝測量，包括膠高、間距等測量
◆PhotoMask、MEMS晶圓級檢測、關(guān)鍵尺寸測量等應(yīng)用
Pinnacle 250適用于對測量有很高要求的應(yīng)用場合。如微電子組裝、裝配、精密沖壓模具以及芯片封裝等。
