詢價
- 分析方法：能量色散X熒光分析方法
- 型號：EDX3600K
- X射線源：50KV、1mA
- 樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
- 測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）
- 檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素
- 含量范圍：ppm～99.99%
- 檢測時間：10秒以上
產品介紹
x熒光光譜儀（礦石、礦料成分檢測儀）EDX3600K專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款高端設備，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應用。
EDX 3600K X熒光光譜儀（礦石成分檢測儀）的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測，并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定，技術達到國際先進水平。
儀器配置
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增強器SNE
性能優(yōu)勢
1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標優(yōu)于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析。
2. 測試更高，檢出限更低
①化的樣品腔設計，帶可調速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試。
②采用超小超真空的樣品腔設計，保證測試時達到10Pa以下，使設備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和。
礦石成分檢測儀設計成高計數率，大大提高了設備的穩(wěn)定性。
技術參數
型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素
礦石成分檢測儀
檢測時間：10秒以上
軟件優(yōu)勢
采用公司新的能譜EDXRF軟件，先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛。
天瑞儀器是礦石成分檢測儀的生產廠家，分析儀器上市公司，產品質量和售后服務得到客戶的廣泛應用和認可。
