詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 分析方法：能量色散X熒光分析方法
- 型號：EDX3600K
- X射線源：50KV、1mA
- 樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
- 測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）
- 檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素
- 含量范圍：ppm～99.99%
- 檢測時間：10秒以上
X熒光全元素檢測分析光譜儀產(chǎn)品介紹
X熒光全元素檢測分析光譜儀屬于先進的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經(jīng)典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式，轉化成光、機、電、算（計算機）一體化、自動化的結構，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光全元素檢測分析光譜儀技術為基礎，結合國外相關新的技術發(fā)展成果，研制出具有自主知識產(chǎn)權的EDX 3600K型X熒光全元素檢測分析光譜儀。
EDX 3600K X熒光全元素檢測分析光譜儀的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔，產(chǎn)品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測，并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定，技術達到國際先進水平。
X熒光全元素檢測分析光譜儀性能優(yōu)勢
1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標優(yōu)于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析。
2. 測試更高，檢出限更低
①化的樣品腔設計，帶可調速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試。
②采用超小超真空的樣品腔設計，保證測試時達到10Pa以下，使設備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和。
3. 分析速度更快
X熒光全元素光譜儀采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術，其線性計數(shù)率可達100kcps，可以更加快速的分析
設計成高計數(shù)率，大大提高了設備的穩(wěn)定性。
4. 一鍵式智能化操作
軟件，先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，使操作簡易，對操作人員限制小的特點。
X熒光全元素光譜儀配置
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增強器SNE
超近光路增強系統(tǒng)
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
先進的數(shù)字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型
X熒光全元素檢測分析光譜儀技術參數(shù)
型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
X熒光全元素光譜儀激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
攝像頭：高清攝像頭
測井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
X熒光全元素檢測分析光譜儀軟件優(yōu)勢
X熒光全元素光譜儀采用公司新的能譜EDXRF軟件，先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數(shù)目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛。
應用領域
X熒光全元素光譜儀專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款高端設備，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應用。
