- 品牌/商標(biāo):九州空間
- 企業(yè)類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:北京
- 掌上型方塊電阻測(cè)試儀:采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定
- 掌上型方塊電阻測(cè)定儀:采用單個(gè)電池供電,帶電池欠壓指示
- 掌上型方塊電阻速測(cè)儀:特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜
JZ-ST20掌上型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。 | ||||||||||||||
◆ 特點(diǎn): | ||||||||||||||
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◆ 技術(shù)指標(biāo): | ||||||||||||||
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