詢價(jià)
- 測(cè)量元素范圍：鈉（Na）到鈾（U）
- 元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
- 同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
- 測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
- 能量分辨率為：145±5eV
- 管壓：5KV-50KV
- 管流：50uA-1000uA
- 外形尺寸：660mm×510mm×350mm
產(chǎn)品介紹
礦石光譜分析儀是使用X射線照射試樣，對(duì)產(chǎn)生的X射線熒光進(jìn)行解析，用以分析試樣元素和含量的裝置。由于X熒光光譜儀器使用方便、快捷，高，成本低等特點(diǎn)，已經(jīng)在很多行業(yè)得到廣泛的應(yīng)用。尤其在地質(zhì)礦產(chǎn)行業(yè)，其應(yīng)用更得到客戶的認(rèn)可。
天瑞儀器生產(chǎn)的3600K\SUPER2400\EDX4500H臺(tái)式系列和便攜式系列X熒光光譜分析儀，就是在地質(zhì)礦產(chǎn)行業(yè)應(yīng)用非常成功的幾款光譜儀器，它們具有以下特點(diǎn)：
1、 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素，并達(dá)到測(cè)量要求。
Genius7000型便攜式光譜礦石分析儀
產(chǎn)品概述
Genius 7000 XRF系列是專門針對(duì)在現(xiàn)場(chǎng)、野外進(jìn)行X熒光分析應(yīng)用而設(shè)計(jì)的儀器，可充分滿足檢驗(yàn)地質(zhì)樣品、巖芯、原礦、廢棄物、精礦、尾礦的現(xiàn)場(chǎng)分析，對(duì)各類樣品進(jìn)行快速識(shí)別和成份分析鑒別。具有體積小，重量輕，普通人可手持測(cè)量的特點(diǎn)；
EDX4500H型光譜礦石分析儀
光譜礦石分析儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。
性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際先進(jìn)水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
同時(shí)分析元素：性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：30秒-200秒
標(biāo)準(zhǔn)配置
光譜礦石分析儀高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
信噪比增強(qiáng)器 SNE
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
光譜礦石分析儀應(yīng)用領(lǐng)域
光譜礦石分析儀合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素）.
