詢(xún)價(jià)
- 品牌/商標(biāo)：九州空間
- 企業(yè)類(lèi)型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：北京
- 手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀：電 阻： 0.010 ～ 9999Ω
- 數(shù)字式四探針測(cè)試儀：儀器具有測(cè)量高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)
- 四探針測(cè)試儀：手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定
JZ-2手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀
二、概述 手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿(mǎn)度自校功能；全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！ 探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專(zhuān)用探頭，也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。 詳見(jiàn) 表2《四探針探頭型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》點(diǎn)擊進(jìn)入儀器具有測(cè)量高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。三、基本技術(shù)參數(shù)1. 測(cè)量范圍、分辨率 電 阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω 電 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm 方塊電阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□2. 材料尺寸 手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定 直 徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm。 SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。 長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。. 測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.3. 量程劃分及誤差等級(jí)量程（Ω-cm/□）9.99999.99999.99999.電阻測(cè)試范圍0.010～9.9999.99～99.9999.99～999.9999.9～9999電阻率/方阻0.010/0.050～9.9999.99～99.9999.99～999.9999.9～2000基本誤差±1%FSB±2LSB±2%FSB±2LSB4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm凈 重：≤0.5kg.jpg)
.jpg)
