影像校正光譜儀 OmniEvo“譜”
成熟的光學(xué)設(shè)計(jì)能力
OmniEvo光譜儀的光學(xué)設(shè)計(jì)，均采用經(jīng)典的C-T結(jié)構(gòu)，并結(jié)合公司多年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)加以改進(jìn)，在光學(xué)分辨率、通光效率和雜抑制等各項(xiàng)關(guān)鍵指標(biāo)上的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-λ180i型影像校正光譜儀，更是國(guó)內(nèi)款運(yùn)用影像校正設(shè)計(jì)和調(diào)校技術(shù)的光柵光譜儀，其性能了國(guó)際水平。
全光柵
OmniEvo光譜儀采用光柵（Newport公司生產(chǎn)），高質(zhì)量的光柵了儀器的光譜性能指標(biāo)。
靈活的光輸入結(jié)構(gòu)選擇
OmniEvo光譜儀采用的是標(biāo)準(zhǔn)的狹縫入口，開(kāi)口寬度可在0.01-3mm之間靈活自由選擇；通過(guò)可以選配光纖作為光輸入附件，既可用于單點(diǎn)測(cè)量，也可以選擇多通道光纖用于多點(diǎn)同時(shí)測(cè)量。
| OmniEvo光譜儀是卓立漢光新推出的將自有的“譜 ”系列（Omni-λ180i）影像校正光柵光譜儀與英國(guó) Andor公司的iVac制冷型CCD進(jìn)行整合的新一代光譜 儀產(chǎn)品，充分發(fā)揮了“譜”系列產(chǎn)品的光學(xué)分光性 能以及iVac制冷型CCD優(yōu)良的弱光探測(cè)性能，具有高的 性?xún)r(jià)比，是進(jìn)行熒光、拉曼光譜實(shí)驗(yàn)的選擇之一。 |
成熟的光學(xué)設(shè)計(jì)能力
OmniEvo光譜儀的光學(xué)設(shè)計(jì)，均采用經(jīng)典的C-T結(jié)構(gòu)，并結(jié)合公司多年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)加以改進(jìn)，在光學(xué)分辨率、通光效率和雜抑制等各項(xiàng)關(guān)鍵指標(biāo)上的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-λ180i型影像校正光譜儀，更是國(guó)內(nèi)款運(yùn)用影像校正設(shè)計(jì)和調(diào)校技術(shù)的光柵光譜儀，其性能了國(guó)際水平。
全光柵
OmniEvo光譜儀采用光柵（Newport公司生產(chǎn)），高質(zhì)量的光柵了儀器的光譜性能指標(biāo)。
| 高靈敏的弱光探測(cè)能力 OmniEvo光譜儀選用了Andor公司的科研級(jí)、制冷型CCD作為光譜探測(cè)器件，在400-1000nm范圍內(nèi)進(jìn)行了響應(yīng)度優(yōu)化，的量子效率60%；芯片的制冷溫度了-60℃，使得其讀出噪聲為6.2e/count，因而能夠滿足大部分的弱光光譜探測(cè)應(yīng)用。另有制冷溫度更-100℃的背感光CCD可選，噪聲更低，峰值量子效率80%以上；還提供適用于900-1700nm范圍內(nèi)使用的制冷型線陣InGaAs探測(cè)器，可用于近紅外波段的光譜信號(hào)探測(cè)。 |
靈活的光輸入結(jié)構(gòu)選擇
OmniEvo光譜儀采用的是標(biāo)準(zhǔn)的狹縫入口，開(kāi)口寬度可在0.01-3mm之間靈活自由選擇；通過(guò)可以選配光纖作為光輸入附件，既可用于單點(diǎn)測(cè)量，也可以選擇多通道光纖用于多點(diǎn)同時(shí)測(cè)量。
