概況
本恒溫試驗(yàn)設(shè)備適用于工業(yè)產(chǎn)品的性試驗(yàn)，具有溫度控制高和控制范圍寬的特點(diǎn)，性能指標(biāo)合GB／T5170.2.3.5.6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法內(nèi)低溫、高溫試驗(yàn)設(shè)備》的要求，并以此作為本設(shè)備的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。
滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法。
GB2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。
G360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。
Gl50.3-86（MIL-STD-810D）高溫試驗(yàn)方法。
Gl50.4-86（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法。
本恒溫試驗(yàn)設(shè)備適用于工業(yè)產(chǎn)品的性試驗(yàn)，具有溫度控制高和控制范圍寬的特點(diǎn)，性能指標(biāo)合GB／T5170.2.3.5.6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法內(nèi)低溫、高溫試驗(yàn)設(shè)備》的要求，并以此作為本設(shè)備的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。
滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法。
GB2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。
G360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。
Gl50.3-86（MIL-STD-810D）高溫試驗(yàn)方法。
Gl50.4-86（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法。
