用指尖實(shí)際感受真正的處理

• 品質(zhì)管理現(xiàn)場，經(jīng)常要求率。
• SMX-800就是為滿足這些需求而開發(fā)的裝置。
• 觸摸屏顯示器及控制桿、直觀的用戶界面、設(shè)計(jì)的載物臺(tái)，都大大減少了檢查時(shí)啟動(dòng)程序所用時(shí)間。
• 誰都可以簡單地觀察、檢測到基板及電子部件內(nèi)部的細(xì)微缺陷。

觸摸屏

• 顯示器使用大型觸摸屏，用手指觸摸，直接進(jìn)行定位，擴(kuò)大，縮小等各種操作。
• 任何人均能立刻掌握操作方法，效率也得以。

擴(kuò)大

• 從左到右拖拽透視圖像顯示區(qū)域，使拖拽范圍擴(kuò)大，覆蓋顯示區(qū)域。

縮小

• 從右向左拖拽，將按倍率縮小。

中心位置確定

• 點(diǎn)擊透視圖像顯示區(qū)域，點(diǎn)擊位置即成為顯示區(qū)域的中心。

外觀圖像顯示擴(kuò)大

• 從左向右拖拽外觀圖像顯示區(qū)域，可擴(kuò)大顯示。

快速操作

• 從放置樣品到快速移動(dòng)到要觀察的位置移動(dòng)，限簡化檢查程序，大幅縮短檢查時(shí)間。

樣品更換

• 按壓樣品更換按鈕，即可停止X射線照射，解除正面門的電磁鎖。此外，載物臺(tái)可自動(dòng)移動(dòng)到便于更換樣品的位置，放置樣品簡單易行。

檢查開始

• 關(guān)上門，輕輕點(diǎn)擊開始按鈕，將自動(dòng)發(fā)射X射線，同時(shí)拍攝載物臺(tái)全景外觀圖像。

定位

• 在所拍攝的外觀圖像上輕輕點(diǎn)擊，大體對準(zhǔn)位置然后輕輕點(diǎn)擊透視圖像，目標(biāo)觀察點(diǎn)，從而實(shí)現(xiàn)載物臺(tái)的輕松定位。

定位

• 在所拍攝的外觀圖像上輕輕點(diǎn)擊，大體對準(zhǔn)位置然后輕輕點(diǎn)擊透視圖像，目標(biāo)觀察點(diǎn)，從而實(shí)現(xiàn)載物臺(tái)的輕松定位。

 舒適、的環(huán)境

精巧設(shè)計(jì)，可實(shí)際體驗(yàn)性

• 作業(yè)均可在手所能觸及的范圍內(nèi)完成。實(shí)現(xiàn)短路徑，不要的時(shí)間浪費(fèi)。
• 此外，設(shè)備緊湊精巧，搬運(yùn)方便，不受放置場地限制。

使用3軸控制桿，輕松控制載物臺(tái)

• 使用控制器上的3軸控制桿，單手即可完成透視圖像定位，擴(kuò)大縮小等操作。根據(jù)控制桿的傾斜方向，透視圖像隨之移動(dòng)，旋轉(zhuǎn)，或者擴(kuò)大縮小。
• 操作量不同，移動(dòng)速度有所變化。硬件控制，可實(shí)現(xiàn)良好應(yīng)答，輕松控制載物臺(tái)。

的設(shè)計(jì)

• 發(fā)射過程中，使用正面門的電磁鎖鎖緊正面門。
• 此外，采用聯(lián)鎖機(jī)構(gòu)，在門處于打開狀態(tài)時(shí)，停止X射線發(fā)射及載物臺(tái)動(dòng)作，以。

優(yōu)異的設(shè)計(jì)

• 節(jié)電模式設(shè)定為時(shí)，可在時(shí)間過后,自動(dòng)停止X射線發(fā)射及關(guān)閉電源，待機(jī)耗電可減少30%以上。

措施

• X射線護(hù)能力不變，但大幅減少了迄今為止曾在護(hù)箱內(nèi)大量使用的鉛。
• （與本公司既有產(chǎn)品比：減少95%以上）

堅(jiān)固的系統(tǒng)

• 通過PC系統(tǒng)的保護(hù)功能，感染造成的非法保存，停止等導(dǎo)致的系統(tǒng)崩潰，實(shí)現(xiàn)硬盤保護(hù)。

方便的功能

教學(xué)功能

• 如先行注冊檢查點(diǎn)，即可反復(fù)檢查同樣的樣品。

全景圖像

• 通過從外觀圖像上指定攝影范圍，就可以拍攝出合適的全景圖像。
• *申請中

步進(jìn)功能

• 具有此功能，便于檢查排列成網(wǎng)格狀的樣品?？稍O(shè)定遞進(jìn)距離與反復(fù)次數(shù)，橫豎移動(dòng)方向。
• 載物臺(tái)按方格狀反復(fù)進(jìn)行步驟移動(dòng)。

預(yù)設(shè)功能

• 可簡單地預(yù)先注冊觀察位置與觀察條件。點(diǎn)擊注冊好的編號(hào)，即可重現(xiàn)設(shè)定好的攝影條件。

便于查看的測量結(jié)果

• 可以用一覽表的形式顯示計(jì)量結(jié)果，便于確定不良點(diǎn)所在位置。

AGC功能

• 配合各種情況，設(shè)定適當(dāng)?shù)挠^察條件。