用 途
·在光學(xué)冷加工中用于檢驗(yàn)球面和非球面的質(zhì)量
·測定光學(xué)件或光學(xué)系統(tǒng)的像差，如球差、像散等
·測定凹球面的曲率半徑
·檢驗(yàn)光學(xué)材料中的缺陷，如條紋，不均勻性等
·光學(xué)系統(tǒng)的檢驗(yàn)和裝配，用它檢驗(yàn)各種非球面及大口徑的球面和平面
技 術(shù) 指 標(biāo)
·相對孔徑：D/F=1：2
·小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
·狹 縫 寬：0.05，0.15mm
·儀器重量：2KG
·粗調(diào)升降：70mm
·微調(diào)升降：15mm
·移 動 量：縱向橫向各15mm
·讀 書 值：0.01mm
·在光學(xué)冷加工中用于檢驗(yàn)球面和非球面的質(zhì)量
·測定光學(xué)件或光學(xué)系統(tǒng)的像差，如球差、像散等
·測定凹球面的曲率半徑
·檢驗(yàn)光學(xué)材料中的缺陷，如條紋，不均勻性等
·光學(xué)系統(tǒng)的檢驗(yàn)和裝配，用它檢驗(yàn)各種非球面及大口徑的球面和平面
技 術(shù) 指 標(biāo)
·相對孔徑：D/F=1：2
·小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
·狹 縫 寬：0.05，0.15mm
·儀器重量：2KG
·粗調(diào)升降：70mm
·微調(diào)升降：15mm
·移 動 量：縱向橫向各15mm
·讀 書 值：0.01mm
