探針，AFM探針，原子力顯微鏡探針，veeco探針，Bruker探針，DNP-10，氮化硅探針用于接觸式或輕敲模式或力的測量。
　　非套裝，適用于BioScope AFM 及 Dimension 系列SPM.
　　每個基片有4個懸臂，彈性系數(shù)為0.06-0.58 N/m，共振頻率為18-65 KHz
　　幾何：各向異性
　　針尖高度（h）：2.5-8.0µm
　　正面角（FA）：15&plun;2.5°
　　背面角（BA）：25&plun;2.5°
　　側(cè)面角（SA）：17.5&plun;2.5°
　　針尖曲率半徑（m）：20nm
　　針尖曲率半徑（Max）：60nm
　　針尖縮進(jìn)（T）（m）：4µm
　　針尖縮進(jìn)范圍（T）（RNG）：0-7µm
　　　
　　HMX-10
　　HarmoniX探針
　　用于納米材料樣品的屬性映射，標(biāo)準(zhǔn)樣品的硬度范圍在10MPa到10GPa之間。HMX探針更適用于硬而粘的樣品表面。彈性系數(shù)2 N/m，共振頻率為60 KHz，鋁反射涂層
　　的“離軸”設(shè)計(jì)，適用于Veeco HarmoniX模式，tr/fl＝17N/m.
　　
　　ML
　　氮化硅探針
　　用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)低。
　　每個基片有6個懸臂，彈性系數(shù)為0.01-0.50 N/m
　　
　　ML-EXMT-A1
　　氮化硅探針
　　用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)低；
　　適用于Veeco Explorer 及 Caliber 原子力顯微鏡等；
　　每個基片有1個懸臂，彈性系數(shù)為0.05 N/m
　　
　　ML-MT-A
　　氮化硅探針
　　用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)低；
　　適用于Veeco CP-II及 Inva 原子力顯微鏡等；
　　每個基片有1個懸臂，彈性系數(shù)為0.05 N/m
　　
　　ML-O10
　　氮化硅探針
　　用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)低；
　　無針尖設(shè)計(jì)，為用戶的應(yīng)用提供了個性化的設(shè)計(jì)，如分子或粒子針尖；
　　每個基片有6個懸臂，彈性系數(shù)為0.01-0.50 N/m
　　
　　ML-UC
　　氮化硅探針
　　用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)低；
　　每個基片有6個懸臂，彈性系數(shù)為0.01-0.50 N/m，無涂層
　　注意：如果用戶沒有添加反射涂層的話不能用于探測成像或力測量。
　　
　　
　　MPP-31123-10
　　Cont20：彈性系數(shù)0.9N/m，共振頻率20KHz，旋轉(zhuǎn)針尖，鋁反射涂層
　　適用于Inva/CP-II SPMs.
　　
　　MS
　　氮化硅探針
　　用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)低；
　　每個基片有6個懸臂，彈性系數(shù)為0.01-0.50 N/m，有銳化處理，
　　
　　MSNL-10
　　屬于 SNL（Sharp Nitride Lever）探針系列。
　　MSNL 探針將硅針尖的銳利和氮化硅懸臂的低彈性指數(shù)高靈敏度結(jié)合，在任何樣品任何媒介中得到一種的高分辨率和力量控制
　　每個基片有6個懸臂，彈性系數(shù)為0.01-0.50 N/m，有銳化處理
　　
　　NP-10
　　氮化硅探針
　　用于接觸式、輕敲式和力的測量
　　每個基片有4個懸臂，彈性系數(shù)為0.06-0.58 N/m
　　
　　NPG-10
　　用于接觸式、輕敲式和力的測量
　　每個基片有4個懸臂，彈性系數(shù)為0.06-0.58 N/m，Au涂層針尖
　　針尖表面的黃金涂層使針尖功能化更容易（如：使用硫醇化學(xué)）。
　　
　　OBL-10
　　每個基片有2個懸臂，彈性系數(shù)為0.006-0.03N/m，Au涂層針尖
　　針尖表面的黃金涂層使針尖功能化更容易（如：使用硫醇化學(xué)）