D-30放射性測(cè)量?jī)x放射性測(cè)量?jī)x就弱放射性樣品進(jìn)行測(cè)量與分析，被測(cè)樣品可以是電沉積樣品，也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為30mm金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器，干擾屏蔽，本底低，功耗小。廣泛服務(wù)于用于地質(zhì)調(diào)查、放射性勘探、檢驗(yàn)樣品的分析地質(zhì)、醫(yī)院、疫站、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、工廠(chǎng)的水質(zhì)、食品等檢驗(yàn)其樣品的總放射性活度。
　　
　　弱放射性測(cè)量?jī)x主要技術(shù)功能：
　　探測(cè)器：金硅面壘30 mm，儀器本底：≤5cph
　　探測(cè)效率：≥36％（2π，239PU源）
　　計(jì)數(shù)容量：，顯示單位：Bq（貝克勒爾）
　　定時(shí)測(cè)量：定時(shí)時(shí)間在1—120min內(nèi)可選擇設(shè)置
　　供電電源：6v蓄電池，充電可工作24小時(shí)
　　測(cè)量范圍：含量≤30000Ur
　　照射量率≤5000nC•kg-1•h-1
　　靈敏度：含量≥5•s-1／Ur
　　能量閾：40keV
　　非線(xiàn)性：≤5％
　　穩(wěn)定性：≤5％
　　準(zhǔn)確性：γ測(cè)量準(zhǔn)確度≤&plun;5％
　　定位準(zhǔn)確度≤10m
　　功耗：≤200mW；≤600mW（加GPS）
　　使用條件：溫度-5℃〜50℃；濕度≤95％（40℃）