電容可測(cè)至1000uF
操做設(shè)定更加簡(jiǎn)單化
U接口更加方便測(cè)試管控
短斷路判定值小200Ω
導(dǎo)通電阻可單獨(dú)分組設(shè)定
可測(cè)試發(fā)光二體參數(shù)值
提供的內(nèi)四線式量測(cè)
的點(diǎn)導(dǎo)通測(cè)試功能
測(cè)試項(xiàng)目
項(xiàng)目
號(hào)
量測(cè)范圍
斷/短路
O/S
200Ω〜50k
短斷路測(cè)試
200Ω〜50k
斷短路端點(diǎn)判斷
導(dǎo)通測(cè)試
COND
10MΩ〜50.0Ω
Intermittent Cond
10MΩ〜50.0
電阻測(cè)試
R
0.1Ω〜10MΩ
電容測(cè)試
C
10pF的〜1000uF
二體測(cè)試
D
0-7V
緣電阻
IR
0.1MΩ〜1.5GΩ
高壓測(cè)試
5mA