檢驗(yàn)方箱
材質(zhì)為：HT200－300　按按/T3411.56-99標(biāo)準(zhǔn)制造。
規(guī)格：不大于1500mm× 1500mm×1500mm 如需求可按客戶要求制作。歡迎與我們聯(lián)系。
檢驗(yàn)方箱檢定方法和普通鑄鐵方箱相似，對(duì)于邊長(zhǎng)為300mm及以下的方箱，檢定時(shí)在方箱被檢面的兩端各放置1mm的量塊，把刀口尺放在量塊工作面上，然后在其各被檢點(diǎn)處用量塊試塞，當(dāng)量塊組剛剛?cè)霑r(shí)的尺寸與兩端量塊尺寸之差為該被檢點(diǎn)對(duì)兩端之間的偏差。這一檢定還應(yīng)在方箱工作面的縱向、橫向和對(duì)角線方向的幾個(gè)截面上進(jìn)行。在測(cè)得的各個(gè)位置的直線中誤差方向一致時(shí)取其值，當(dāng)誤差方向不一致時(shí)取其正差與負(fù)差值之和，為該受檢面平面的平面度。

• 劃線方箱是用鑄鐵或鋼材制成的具體6個(gè)工作面的空腔正方體，其中一個(gè)工作面上有V型槽。（也可加工T型槽?？砂从脩粜枰蠹庸ざㄗ觯┓较?。（單位：件）
  用于鉗工立體劃線和機(jī)械件的平行度、垂直度的測(cè)量和檢驗(yàn)。
  按/T3411.56-99標(biāo)準(zhǔn)制造，材料HT200，用于部件平行度、垂直度的檢驗(yàn)和劃線，方箱用于檢驗(yàn)或劃精密工件的任意角度線，
  檢定的環(huán)境條件：常溫、常濕。2、方箱各工作面不得有銹跡、劃痕、裂紋、凹陷以及影響計(jì)量性能的其他缺陷。非工作面應(yīng)清砂涂漆，棱邊倒角
  檢定方法：對(duì)于邊長(zhǎng)為315mm及以下的方箱，檢定時(shí)在方箱被檢面的兩端各放置1mm的量塊，把刀口形直尺放在量塊工作面上，然后在其各被檢點(diǎn)處用量塊試塞，當(dāng)量塊組剛剛?cè)霑r(shí)的尺寸與兩端量塊尺寸之差為該被檢點(diǎn)對(duì)兩端之間的偏差。這一檢定還應(yīng)在方箱工作面的縱向、橫向和對(duì)角線方向的幾個(gè)截面上進(jìn)行。在測(cè)得的各個(gè)位置的直線中誤差方向一致時(shí)取其值，當(dāng)誤差方向不一致時(shí)取其正差與負(fù)差值之和，為該受檢面平面的平面度。

  •  磁性方箱的V槽部分及底部均帶有磁力，使得被測(cè)工件可以牢固的固定在方箱上，使用方便；同時(shí)也大大降低了由于工件不穩(wěn)，或操作過(guò)程中的疏忽，使工件滑落，傷及工作人員的情況。
      　  磁力方箱/T34.56-99標(biāo)準(zhǔn)制造，材料BT200-300。在上表面、兩側(cè)和V型面有磁力，V型面解決了不規(guī)則工件的測(cè)量。V型槽帶有磁力，使用方便。用于部件平行度、垂直度和檢驗(yàn)和劃線，
            規(guī)格：100mm×100mm×100mm-600mm×600mm×600mm
           特點(diǎn)：制造高，V面兩部分角度相同，操作便當(dāng)，V型面測(cè)量直徑在Φ20mm內(nèi)。

    • 鑄鐵方箱主要用于部件平行度、垂直度的檢驗(yàn)和劃線時(shí)支撐工件，一般為邊長(zhǎng)相同的正方體或長(zhǎng)方體，可根據(jù)用戶要求制作各種規(guī)格和等高方箱及長(zhǎng)方筒。
      鑄鐵方箱：按/T3411.56-99標(biāo)準(zhǔn)制造，材料HT200。
       要求：方箱各工作面不能有銹跡、劃痕、裂紋、凹陷以及影響計(jì)量性能的其他缺陷。非工作面應(yīng)清砂涂漆，棱邊倒角。在方箱內(nèi)壁應(yīng)有標(biāo)牌，并標(biāo)有規(guī)格尺寸，級(jí)別出廠編號(hào)、制造廠名稱。
      ：對(duì)于刮研制方箱除檢定平面度外，還要用涂色法檢定接觸斑點(diǎn)。在邊長(zhǎng)為25mm任意正方形內(nèi)斑點(diǎn)數(shù)為：1級(jí)、2級(jí)不少于25點(diǎn)；3級(jí)不少于20點(diǎn)。
      鑄鐵方箱檢定方法對(duì)于邊長(zhǎng)為300mm及以下的方箱，檢定時(shí)在方箱被檢面的兩端各放置1mm的量塊，把刀口尺放在量塊工作面上，然后在其各被檢點(diǎn)處用量塊試塞，當(dāng)量塊組剛剛?cè)霑r(shí)的尺寸與兩端量塊尺寸之差為該被檢點(diǎn)對(duì)兩端之間的偏差。這一檢定還應(yīng)在方箱工作面的縱向、橫向和對(duì)角線方向的幾個(gè)截面上進(jìn)行。在測(cè)得的各個(gè)位置的直線中誤差方向一致時(shí)取其值，當(dāng)誤差方向不一致時(shí)取其正差與負(fù)差值之和，為該受檢面平面的平面度。