XEye 擁有射線護的X射線探測器

高圖像質(zhì)量是的工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量,即使是小的缺陷區(qū)域也是檢測的關(guān)鍵。
XEye X射線探測器由德國Fraunhofer(弗勞恩霍夫)IIS實驗室開發(fā)研制，2006年8月連續(xù)7天8小時在225KV X射線輻照下連續(xù)工作運轉(zhuǎn),圖像質(zhì)量依然穩(wěn)定。XEye結(jié)合了高解析度和大成像區(qū)域 - 模塊化結(jié)構(gòu)甚至允許成像區(qū)域任意增加。

XEye系列探測器已經(jīng)成功引入許多應用。是工業(yè)應用全天候運行得益于XEye's穩(wěn)定的圖像質(zhì)量和耐用性,應用在：
- 檢查輪胎
- 在線計算機斷層掃描
- 鑄件檢驗
- PCB檢測
- 高分辨率的計算機斷層掃描

探測器規(guī)格
像素尺寸為:100mm -400 mm
成像區(qū)域:400mm x200 mm;200mmx200 mm;200 mm×50 mm可以定制
幀速率:4.5 - 50 FPS
曝光時間:1毫秒 - 2秒
觸發(fā)外部觸發(fā)，軟件觸發(fā)，自由運行
動態(tài)范圍（約）:
像素尺寸為400μm10.000： fps
7.000：1@9 FPS
5.000：1@16 fps
3.500：1@ 25 fps
像素尺寸為200μm5.000： fps
3.500：1@9 FPS
2.500：1@16 fps
像素大小為100μm2.500： fps
1.800：1@9 FPS
圖像滯后<0.1％
閃爍體PI200 DRZ高/加/標準 CAWO OG2/ OG8/ OG16
可以定制

環(huán)境溫度:10°C至+40°C無冷凝
電壓范圍:可達225kv,

電源:輸入230VAC輸出為24 VDC電源