X射線熒光光譜儀，采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，測(cè)量和分析印刷線路板、護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的部件上的鍍層。

簡(jiǎn)介
CHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀。它是從大眾的CHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發(fā)展而來(lái)的。與上一代相類似，它尤其適合測(cè)量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的部件及印刷線路板。
比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高測(cè)量。由于采用了cher基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。可測(cè)量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
XDL型X射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
XDL 系列儀器適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
?測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
?測(cè)量薄鍍層，例如裝飾鉻
?測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
?全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板
?分析電鍍?nèi)芤?br />

設(shè)計(jì)理念
CHERSCOPE X-RAY XDL設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。我們會(huì)根據(jù)樣品平臺(tái)的運(yùn)行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z軸系統(tǒng)來(lái)設(shè)定不同型號(hào)的儀器以滿足實(shí)際應(yīng)用的需求。
XDL210：平面樣品平臺(tái)，固定的Z軸系統(tǒng)
XDL220：平面樣品平臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸系統(tǒng)
XDL230：手動(dòng)操作的X-Y樣品平臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸系統(tǒng)
XDL240：馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的X-Y樣品平臺(tái)，當(dāng)測(cè)量門打開時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置；馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸系統(tǒng)，可編程運(yùn)行，可用兩種速度運(yùn)行。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以定位測(cè)量位置。通過(guò)視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過(guò)程和進(jìn)度。配有手動(dòng)或者馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X-Y樣品平臺(tái)的儀器還配備了激光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置。
測(cè)量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計(jì)，可以測(cè)量比測(cè)量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品。例如大型的線路板。
的操作，測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算，以及測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過(guò)強(qiáng)大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
XDL型光譜儀是而保護(hù)的測(cè)量?jī)x器，型式許可合德國(guó)“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。

通用規(guī)范
用途:能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來(lái)測(cè)量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
元素范圍:從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可多同時(shí)測(cè)量24種元素
設(shè)計(jì)理念:臺(tái)式儀器，測(cè)量門向上開啟
測(cè)量方向:由上往下